EEROM内东西丢失,如何判断? 可靠性技术 新手提问 08年7月1日 编辑 annie@jing 取消关注 关注 私信 请教各位,产品在做带负载的功能测试失败后,检查发现一个EEROM内的东西丢失,并无法在写进去,这是为什么呢?除了更换此元器件判断外,还有什么方法可以判断是外围电路造成还是本身元器件坏呢? 给TA打赏 共{{data.count}}人 人已打赏
annie@jingA lv2lv2 08年7月3日 这个元器件有2个NC脚都是没有接. 对于丢失的东西,我还没有去查看过,这个元器件只有VCC,GND,SK,CS,NC,NC,D0,D1,没有WP脚. Fanweipin所说的实验也无法做. 想请教Wu8295,如何查看这个元器件是一个bit的丢,还是一个block的丢呢.对这方面的知识很缺乏.
fanweipin lv5lv5 08年7月1日 先不要写资料进去，可以用专有的读资料的工具将内部的所有地址信息读出来与正常品进行核对，是不是有DATALOSS的现象。写不进去资料先可以用你的代换法确认是不是硬件原因，有本体原因，也可能有外围电路搭配的原因。
这个元器件有2个NC脚都是没有接.
对于丢失的东西,我还没有去查看过,这个元器件只有VCC,GND,SK,CS,NC,NC,D0,D1,没有WP脚.
Fanweipin所说的实验也无法做.
想请教Wu8295,如何查看这个元器件是一个bit的丢,还是一个block的丢呢.对这方面的知识很缺乏.
先去看一下你是一个bit的丢，还是一个block的丢，你看了吗？原理是不一样的
[[i]本帖最后由wu8295于2008-7-317:37编辑[/i]]
一般NC脚是要接地的，不可空置。否则会导致一些无理头的故障来。
想了解下楼主EPROM中NC的脚位是怎样连接的:)
把IC的WP腳按照相關要求進行PULLHigh/PULLLOW設置後再試一下老化試驗結果
就是数据丢失的现象,我们是用ICT将数据写进去,FCT进行读取,但是在进行老化实验时fail后就发现数据丢失.
先不要写资料进去，可以用专有的读资料的工具将内部的所有地址信息读出来与正常品进行核对，是不是有DATALOSS的现象。写不进去资料先可以用你的代换法确认是不是硬件原因，有本体原因，也可能有外围电路搭配的原因。