一个奇怪的现象 可靠性技术 新手提问 08年7月21日 编辑 annie@jing 取消关注 关注 私信 在产品功能失效后,剖开产品发现一个三极管的元件外壳破损.这样的结果拿出去工程师都无法接受,问为什么在做前面的功能测试时没有失效呢? 对这样的现象我也无法解释,难道元器件外壳损伤,没有损伤到内部的性能也能暂时性过关吗? 各位有经验的同仁帮我解释一下啊? 给TA打赏 共{{data.count}}人 人已打赏
338 lv4lv4 08年7月31日 [url=http://www.kekaoxing.com/club/thread-2272-1-1.html]PCT:高压蒸煮试验PressureCookTest(AutoclaveTest)[/url] [url]http://www.kekaoxing.com/club/thread-1437-1-1.html[/url] [url]http://www.kekaoxing.com/club/thread-2272-1-1.html[/url] PCT标签：[url]http://www.kekaoxing.com/club/tag.php?name=PCT[/url] [b]FCT功能测试:FunctionTest[/b] [[i]本帖最后由338于2008-7-3110:06编辑[/i]]
fzhello lv2lv2 08年7月30日 [quote]原帖由[i]annie@jing[/i]于2008-7-2214:16发表[url=pid=25340&ptid=3604][/url] 是经过了FCT和PCT在进行FCT时有了安规试验,都没有失效啊,然后进行四小时的带负载试验(只是带动马达转动), 奇怪的是在负载试验失效后在进行FCT测试还可以通过. 但在进行马达带负载直接启动时只能启动,无法持续工作…[/quote] 也就是说，失效（跟破损没关系）是在带负试验的过程中失效的喽 有2种可能：1、因为失效所以裂开2、因为裂开所以失效 失效原因是：1、破损是在失效前造成的（这说明器件工艺存在问题）2、破损是在失效后造成的（如果是驱动电机的MOSS管，散热不好可能导致炸裂） 因此如果你还有类似的管子，多找几个，在安装在同样的板子上以后再次进行FCT和PCT，看看还有没有问题，这样应该比较快，可以排除第一种可能 或者多进行几轮带载老化，这样可能比较费事，可以排除第二种可能 另外：请教FCT和PCT是啥缩写哦
fjd6581 lv3lv3 08年7月29日 如果是塑封器件的外壳破损问题就大了，可能是1、温度导致塑封炸开。2、由于应力问题使得塑封损伤，会导致芯片破裂或引线拉断。具体还要看你的破损形貌，有照片吗？
alvinway lv4lv4 08年7月24日 [quote]原帖由[i]annie@jing[/i]于2008-7-2214:16发表[url=pid=25340&ptid=3604][/url] 是经过了FCT和PCT在进行FCT时有了安规试验,都没有失效啊,然后进行四小时的带负载试验(只是带动马达转动), 奇怪的是在负载试验失效后在进行FCT测试还可以通过. 但在进行马达带负载直接启动时只能启动,无法持续工作…[/quote] 可能是上锡性没有达到要求，可以试着把三极管与PCB接触的地方加锡！！！只要能排除不是设计引起的，其他一切都好办了！！ 与我工作中遇到一个情况类似，就是DIMM槽上锡性不好，512M的满载工作都OK，换成4G/8G的即使可以开机，运行一段时间就会重起的！！ 拿去产线重新加锡后，一切OK。
aries lv4lv4 08年7月23日 可能坏地只是外壳呗 里面并没有损伤到呗 很多芯片，从客户那里退回来进行测试的时候都根本没有功率输出 然后我们拿去bake一下 再测试就pass了 这种现象在芯片公司经常遇到
annie@jingA lv2lv2 08年7月22日 是经过了FCT和PCT在进行FCT时有了安规试验,都没有失效啊,然后进行四小时的带负载试验(只是带动马达转动), 奇怪的是在负载试验失效后在进行FCT测试还可以通过. 但在进行马达带负载直接启动时只能启动,无法持续工作了.
alvinway lv4lv4 08年7月22日 [quote]原帖由[i]annie@jing[/i]于2008-7-2115:32发表[url=pid=25295&ptid=3604][/url] 在产品功能失效后,剖开产品发现一个三极管的元件外壳破损.这样的结果拿出去工程师都无法接受,问为什么在做前面的功能测试时没有失效呢? 对这样的现象我也无法解释,难道元器件外壳损伤,没有损伤到内部的性能也能暂时…[/quote] 确认了是单体问题就好办啊！！！针对这个问题做些改善，比如在功能测试前做些外观检查，排除一些外界因素的干扰哦！！！ 请问下前面功能没有失效，那是经过什么测试后会出现的失效呢？如果是振动冲击HALT测试，那三极管的元件外壳破损的话，需要做进一步的分析哦！！！
stevenfeng0902 lv2lv2 08年7月22日 我之前有经历过类似的问题，也是一个三极管，外观损伤，FCT测试OK，当做到HASS第一个低温-20摄氏度时管子就实效啦，导致CPU小系统重启后当机。以后再验证常温时第一遍OK，然后烧机一会再下电上电就问题复现啦，不知道是不是和你的一样！
目前还没接触到这类测试觉得的确很专业学习一下
谢谢～:loveliness:
[url=http://www.kekaoxing.com/club/thread-2272-1-1.html]PCT:高压蒸煮试验PressureCookTest(AutoclaveTest)[/url]
[url]http://www.kekaoxing.com/club/thread-1437-1-1.html[/url]
[url]http://www.kekaoxing.com/club/thread-2272-1-1.html[/url]
PCT标签：[url]http://www.kekaoxing.com/club/tag.php?name=PCT[/url]
[b]FCT功能测试:FunctionTest[/b]
[[i]本帖最后由338于2008-7-3110:06编辑[/i]]
[quote]原帖由[i]annie@jing[/i]于2008-7-2214:16发表[url=pid=25340&ptid=3604][/url]
是经过了FCT和PCT在进行FCT时有了安规试验,都没有失效啊,然后进行四小时的带负载试验(只是带动马达转动),
奇怪的是在负载试验失效后在进行FCT测试还可以通过.
但在进行马达带负载直接启动时只能启动,无法持续工作…[/quote]
也就是说，失效（跟破损没关系）是在带负试验的过程中失效的喽
有2种可能：1、因为失效所以裂开2、因为裂开所以失效
失效原因是：1、破损是在失效前造成的（这说明器件工艺存在问题）2、破损是在失效后造成的（如果是驱动电机的MOSS管，散热不好可能导致炸裂）
因此如果你还有类似的管子，多找几个，在安装在同样的板子上以后再次进行FCT和PCT，看看还有没有问题，这样应该比较快，可以排除第一种可能
或者多进行几轮带载老化，这样可能比较费事，可以排除第二种可能
另外：请教FCT和PCT是啥缩写哦
如果是塑封器件的外壳破损问题就大了，可能是1、温度导致塑封炸开。2、由于应力问题使得塑封损伤，会导致芯片破裂或引线拉断。具体还要看你的破损形貌，有照片吗？
要留名,都是失效案例呀,呵呵.
太专业了点。不是很大懂不过还是顶你们！！:victory:
[quote]原帖由[i]annie@jing[/i]于2008-7-2214:16发表[url=pid=25340&ptid=3604][/url]
是经过了FCT和PCT在进行FCT时有了安规试验,都没有失效啊,然后进行四小时的带负载试验(只是带动马达转动),
奇怪的是在负载试验失效后在进行FCT测试还可以通过.
但在进行马达带负载直接启动时只能启动,无法持续工作…[/quote]
可能是上锡性没有达到要求，可以试着把三极管与PCB接触的地方加锡！！！只要能排除不是设计引起的，其他一切都好办了！！
与我工作中遇到一个情况类似，就是DIMM槽上锡性不好，512M的满载工作都OK，换成4G/8G的即使可以开机，运行一段时间就会重起的！！
拿去产线重新加锡后，一切OK。
可能坏地只是外壳呗
里面并没有损伤到呗
很多芯片，从客户那里退回来进行测试的时候都根本没有功率输出
然后我们拿去bake一下
再测试就pass了
这种现象在芯片公司经常遇到
是经过了FCT和PCT在进行FCT时有了安规试验,都没有失效啊,然后进行四小时的带负载试验(只是带动马达转动),
奇怪的是在负载试验失效后在进行FCT测试还可以通过.
但在进行马达带负载直接启动时只能启动,无法持续工作了.
[quote]原帖由[i]annie@jing[/i]于2008-7-2115:32发表[url=pid=25295&ptid=3604][/url]
在产品功能失效后,剖开产品发现一个三极管的元件外壳破损.这样的结果拿出去工程师都无法接受,问为什么在做前面的功能测试时没有失效呢?
对这样的现象我也无法解释,难道元器件外壳损伤,没有损伤到内部的性能也能暂时…[/quote]
确认了是单体问题就好办啊！！！针对这个问题做些改善，比如在功能测试前做些外观检查，排除一些外界因素的干扰哦！！！
请问下前面功能没有失效，那是经过什么测试后会出现的失效呢？如果是振动冲击HALT测试，那三极管的元件外壳破损的话，需要做进一步的分析哦！！！
做了安规试验吧.说明你们的原材料生产工艺存在问题,以前我也发现过.
我之前有经历过类似的问题，也是一个三极管，外观损伤，FCT测试OK，当做到HASS第一个低温-20摄氏度时管子就实效啦，导致CPU小系统重启后当机。以后再验证常温时第一遍OK，然后烧机一会再下电上电就问题复现啦，不知道是不是和你的一样！
没有啊,只是进行了功能测试,加入了高压.
只是单独的一个产品,也无法用同一批产品去做啊?
拿同一批樣品去做C-SAM試驗,就知道問題點出在那裡了~~
请问是做了些什么试验?是不是高温高湿?