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VDMOS经过加速寿命试验后漏源电流退化的机理是什么啊?

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2008-9-2 20:49:27

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2008-9-2 22:59:58

3 条回复 A文章作者 M管理员
  1. aries

    是否和参杂载流子的渗透有关
    ps:呢这个问题好专业

  2. zhangrui0210

    高温存储试验能否恢复器件特性

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