Derating test method

说说降额设计的理论基础吧:(

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好东西，已拜读完毕！tks！！

收获不小呢！

Derating是可靠度设计的一种手法但是成本有可能因此上扬,因此需要设计品质与成本间取得平衡才行.

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我的理解：降额只是提出来一个目标，通过检测才可以检查是否实现了这个目的。

Derating是可靠度計的一種手法，加上TEST，是對這種手法的一個確認檢查，檢查設計應力是否符合降額因子的要求。

降额一般算在可靠性设计里面，如果有时说叫降额测试（deratingtest)的话，可能是因为里面有些比如电应力，温度等方面要进行测试吧。应该是一种不规范的叫法。

呵，是我的理解，不知道有没有别的意思，欢迎大家讨论。。。

蠻好奇的，Derating(減額定或降額定)是一種可靠度設計手法，在線路設計選擇零件時，希望元件不會因為溫度能力太低而造成設計產品不可靠。為何又加上測試或試驗(test)。是不是有人認為標準化或標準用詞也是搞可靠度或品質保證的人應該注意的事！
依附件原意應該是測試零件在操作時的溫度升值，以此數值加上周邊溫度(ambienttemperatureorcasetemperature)得到零件的操作溫度值，與零件的額定溫度比較，檢查此一零件是否符合零件設計時規定的溫度降額準則(deratingcriteria)。不知這樣的解讀是否正確，請教有應用此一文件的朋友。

thanks

[color=blue][size=4]摘录附件部份内容：

Q/WP1685.1-2004[b]元器件裕量测试
[/b]
1范围

本标准给出了大功率元器件（包括电阻，整流二极管，三极管，电解电容，变压器/线圈，电感及
IC）的可靠性测量方法、结果判断。
本标准适用于电视接收机及有关设备的大功率元器件的[b]可靠性设计[/b]、检验。

2测试条件

2.1电视接收机的测试条件
a)测试信号：全彩条+粉红噪声；
b)电源电压：产品额定正常工作电压，有电压范围的，取其中较恶劣的电压值；
c)图像设置：亮度100%，对比度100%；
d)伴音设置：1KHz正弦波、音量度100%（PHILIPSSTD：扬声器额定功率1/2）；
2.2信息技术设备的测试条件
具有VGA/SVGA输入功能的背投、PDP、LCDTV等设备，必须在电视模式和显示器模式下检测。
显示器模式下的工作状态为：
a)对比度调至最大；
b)亮度控制旋钮调至最大；
c)用黑底白字，滚动的满屏“H”图案；
d)采用典型的分辨频率，一般选用最高行频。

3测试方法
3.1功率电阻
a)首先测试电阻在工作稳定后的温升。温升的测量方法见Q/WP1684.2-2004。如果温升测量的结果
不大于65℃，则下列降额指标不需要测试，此项也适用于二极管，三极管；
b)将被测设备开启，输入规定的图像及伴音信号，音频的负载可用假负载代替，热机10分钟，待
其工作稳定后开始测量；
c)将FLUKE多用表设置为交流电压、直流电压叠加档；
d)测量电阻两端的电压，记录测试数据，依次测量所有额定功率大于1/2W的电阻。
3.2二极管
a)将被测设备开启，输入规定的图像及伴音信号，音频的负载可用假负载代替，热机10分钟，待
其工作稳定后开始测量；
b)用示波器测量二极管两端电压的峰峰值，然后将多用表设置为直流电流档，串入二极管中测量二
极管的正向电流的有效值；
c)在开关机的瞬间测量二极管两端电压的峰峰值；
d)待其机内温度稳定后（一般为4小时），用FLUKE数据采集仪测量二极管的体表温度；
e)将测量数据填入相应的表格中。
3.3三极管
a)将被测设备开启，输入规定的图像及伴音信号，音频的负载可用假负载代替，热机10分钟，待
其工作稳定后开始测量；
b)校准电流探头和电压探头；
c)按图示1接好线路，从示波器中测量DS极或EC极间的电压；
d)将D极或C极吸开，串接一根长度适中的导线，用电流探头测量D极或C极的电流；
e)待其机内温度稳定后（一般为4小时），用FLUKE数据采集仪测量三极管的体表温度；
f)将测量数据填入相应的表格中。

3.4电容
a)先按照温升的测试方法测量电容的体表温度；
b)校准电流探头，将被测设备开启，输入规定的图像及伴音信号，音频的负载可用假负载代替，
热机10分钟，待其工作稳定后开始测量；
c)将FLUKE多用表设置为直流电压档，测量电容两端电压的有效值；
d)断开电源，将电容吸开，在电容的负极到地之间串入一根合适的导线（不宜过长），用电流探
头夹住导线，合上电源，待机器工作稳定后测量通电容的纹波电流的有效值，并记录其工作频率；
e)在待机状态下，重复测试（b）至（d）项。
3.5绕组
对于开关变压器，线形电感，行输出变压器的可靠性测试，可用线圈的温升测试来评价。绕组的温
升测量方法见温升测量中的四线电阻法；
3.6IC
对于IC的可靠性，可以采取直接测量封装表面温升的方法来判定。测量方法见Q/WP1673-2004。

4结果的判断

[quote]原帖由[i]fanweipin[/i]于2007-4-1608:15发表
Deratingtestmethod[/quote]

[[i]本帖最后由fanweipin于2007-4-1919:28编辑[/i]]

降额设计的作业方法步骤很详细。。