热应力对半导体器件失效率的影响

五所的资料

给TA打赏
共{{data.count}}人
人已打赏
可靠性技术新手提问

请教问题:OM,SEM,C-SAM在FA中的应用和区别

2009-1-2 15:59:03

可靠性技术可靠性试验

HASS FROM CONCEPT TO COMPLETION

2009-1-2 22:30:54

19 条回复 A文章作者 M管理员
  1. xztdlfz1

    挺不错的资料

  2. wh19841220

    多谢分享

  3. chf707

    谢谢分享

  4. blue_berry

    tks

  5. xztdlfz1

    很好谢谢楼主分享

  6. chjhwfj

    谢谢分享

  7. tangyu8840

    学习是肯定的
    致敬是必要的

  8. wikiriwhi

    好东西,谢谢分享。。。

  9. wikiriwhi

    好东西,谢谢分享。。。

  10. wikiriwhi

    好东西,谢谢分享。。。

  11. basetwins

    goodandusefulinformation

  12. 闲情

    [i=s]本帖最后由闲情于2010-2-910:32编辑[/i]

    可以理解在器件质量不高的年代,为何需要老化筛选,七专~~~~~~~~`

  13. 闲情

    道理是对的,
    随着工艺技术的进步,器件的一致性越来越好,很多方面已不可同日而语了.

  14. zhangxw

    已下载,资料是老了点

  15. wqpye

    这是二十多年的状元红。会觉得老吗?

  16. okhere1999

    支持楼主分享资料!

  17. helpme

    学习下,谢谢老大

  18. tta168

    虽说是96年的资料,不过还是有参考价值的,感谢

个人中心
购物车
优惠劵
今日签到
有新私信 私信列表
搜索