加速寿命试验的数据处理

       根据加速寿命试验的结果数据，进行分析和处理，可以得到试验器件的可靠性分布参数。

       如果电子元器件样品的失效机理符合Arrhenius模型的加速方程，则可在单对数坐标纸上画t_i(0.5)～1/T_i直线，即将整理的1/T₁、1/T₂…1/T_e数据在单边对数坐标上描点，各点分布应近似为一直线。此直线就是加速寿命曲线。利用此法可预测出在正常温度T₀下的中位寿命t_i(0.5)，如图8.5所示。

利用威布尔概率纸可以预测正常温度下的寿命分布：

(1)由整理数据中的形状参数m_i值可用下式计算出在正常温度T₀下的m₀值

式中，n₁、n₂、…n_e是t₁(0.5)、t₂(0.5)…t_e(0.5)时的失效数。

            (2)在概率纸上描绘[t₀(0.5),F₀(0.5)]点；

   (3)在概率纸y轴标尺上找到m₀点，由此点向左引水平线与y轴相交，过交点与m估计点作直线H，再过点[t₀(0.5), F₀(0.5)]与H线平行的直线L₀。L₀线就是在温度应力T₀下，形状参数为m₀的寿命分布直线。如图8.6所示。