可靠性预计
1、可靠性预计的意义
预先控制产品因硬件失效导致的单板返修率；
预先估计产品投入市场使用时的系统年停机时间；
进行应力分析，发现薄弱环节，提高产品可靠性；
为维护费用、备件数等的计算提供依据；
2、可靠性常用的预计方法
公式： λssi=λGi×πQi×πSi×πTi
当单元内为串联模型时，单元的总失效率为
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λG:器件固有失效率 πQ:质量等级因子 πE:环境因子 πT:温度应力因子
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通常情况下简化公式：
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1）元器件计数法（Bellcore (TR-332)方法1情况1和情况2）
计数法：πS=1 πT=1 •情况1：单元/系统的老化时间<=1小时，且无器件级老化的黑盒预计。器件假设工作在40℃的温度和50%的电应力下。
•情况2：单元/系统老化时间>1小时，但无器件级老化的黑盒选项。器件假设工作在40℃的温度和50%的电应力下。
2）有限应力法（Bellcore (TR-332)方法1情况3）
•情况3：一般情况－所有其它的环境条件。这种情况用于供应商希望进行器件级老化的或者当供应商或用户希望得到在除40℃和50%的应力条件以外的情况下的可靠性预计结果时。以下称这些预计为“有限应力”预计。
