2.6.1失效模式的發生概率
成品失效模式發生概率的分類見下表。
等 級 發 生 概 率
A 級 (經 常 發 生 ) 大於 產品 總 失 效概 率 的 20%
B 級 ( 有 時 發 生 ) 產品 總 失 效概 率 的 10% ~20%
C 級 ( 偶然 發 生 ) 產品 總 失 效概 率 的 1% ~10%
D 級 ( 很少 發 生 ) 產品 總 失 效概 率 的 0.1% ~1%
E 級 ( 極 少 發 生 ) 小於 產品 總 失 效概 率 的 0.1%
估計失效模式發生概率有多種方法,諸如:事件時序樹分析法ETA,
故障樹分析法FTA等。
從認為是失效原因的初始事件出發,按時間順序追蹤,到成為產品的
最終事件為止,按照零部件的功能和應用的順序,把在阻止事件發生上
是成功的或者是失敗的事件展開,再求取其概率。
如下圖,圖中的大寫英文字母代表事件,因為每一種事件都可能有兩
種狀態,即完好和故障狀態。例如,A、B、C、D分別代表不同四種事件
的完好狀態,相反,為故障狀態。A為初始事件,按照事件發生的時序,
依次與各事件的兩種狀態連接起來構成時序樹。樹中每一條連通線就是
一個事件序列,下圖共有八個事件序列(分枝)。