——在运用应力筛选中使用了传统的两个基本方法。在第一个方法中，客户应明确地详细说明筛选和将用到的筛选参数。第二种且更让人喜欢的方法，承包商为产品研制一个筛选计划。
——制定的方法要求：1）评估设备中的初始部分和生产类型中将出现的隐藏的缺陷，2）决定ESS后在设备中将出现的最大的允许的潜的缺陷，3）确定基于1）和2）上的具有充分筛选能力的筛选发展。描绘此方法的模块图解见图1。
——典型的隐藏的缺陷包括冷焊接接点，断掉/毁坏的电线，松垮的硬件，ESD毁坏以及管理上的受损。评价隐藏缺陷的最初的数量的最好的方法是从公司的经验数据。这个经验数据包括其他项目的历史记录，合格测试结果和现场失效数据。MIL-HDBK-344“电子设备的ESS”中也提出了基于系统复杂程度上的判定初始的潜在缺陷的一种方法。
——无ESS计划是理想的且一些潜在的缺陷在筛选之后可能还存在设备之中。MIL-HDBK-344给出了下面的方程，此方程可以决定隐藏缺陷的最大允许量：
FR≤
其中：FR=隐藏缺陷的失效率Required MTBF是客户要求的
Inherent MTBF 是固有的MTBF
Safety Margin 典型地从1.5到2
——环境应力的强度的计算在MIL-HDBK-344中有详细地描述。应力筛选应用在哪里和什么级别上装配等的选择是更难处理的问题。在这里花费是主要的激励器，目标在最少的时间内用最少的费用来选择最有效的筛选。设备和可得到的测试设备的环境的限制也必须考虑到。
图2，是结合了MIL-HDBK-344，为初始的筛选选择和定位提供指南。
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组装
级别
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选择
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定位
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优点
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缺点
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E
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M
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M
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N
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每个析出的缺陷的花费是最地的（非电力筛选）
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测试缺陷效率相对比较低
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单元
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E
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M
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E
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M
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与装配级别相比具有较高的测试缺陷效率
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每个析出的缺陷的花费比装配级高很多
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系统
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E
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M
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span>E
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M
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高测试缺陷效率
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每个缺陷的花费最高
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图2 ESS 的初始规范
其中：E—有效 M—勉强有效 N—无效
