电磁干扰对电子元器件寿命试验影响和应变措施 可靠性动态 07年10月17日 编辑 可靠性 取消关注 关注 私信 摘要： 本文描述了电子元器件在寿命试验中受到的电磁干扰，寻找其干扰源，分析产生的干扰机理，从而采取有效措施，排除干扰，使寿命试验达到预期的目的。 给TA打赏 共{{data.count}}人 人已打赏
