通用微处理器等效老化试验方法 可靠性动态 07年10月17日 编辑 可靠性 取消关注 关注 私信 摘要: 针对不同工艺、不同设计的同类集成电路等效老化的需要,提出了集成电路等效老化的特征参数一一”归一化老化电流”指标 a ,并讨论了等效老化信号的确定原则。结合集成电路等效老化信号确定原则,以 CPU486 为研究对象,给出通用 CPU 等效老化试验方案,为评估和比较不同 CPU 的质量和可靠性提供了统一的试验平台。 给TA打赏 共{{data.count}}人 人已打赏