关于举办“电子元器件可靠性专题讲座”的通知
各有关单位：
为了帮助信息电子产品制造业质量工作和技术人员掌握可靠性基本理论和知识，了解电子产品质量/可靠性管理的基本方法；了解产品从设计、生产、运输各环节环境试验的针对性，掌握环境试验的内容，以及对环境应力的选择和控制，更有效的快速暴露产品缺陷；掌握主要元器件和微组装/板级组件的失效模式和失效机理，更深层次的了解失效分析程序和方法，中国电子电器可靠性工程协会决定组织召开“电子元器件可靠性专题讲座”。讲座将由具有工程实践和教学丰富经验的教师主讲，通过讲解大量案例，使学员更深入的掌握可靠性研究分析方法。现具体事宜通知如下：
一、主办单位：中国电子电器可靠性工程协会；
二、承办单位：北京怀远文化传播中心；
三、培训时间、地点：3天·深圳2007年11月24-26日，11月23日报到；
四、课程对象：系统总质量师、产品质量师、设计师、工艺师、研究员，质量可靠性管理和失效分析工程师；
五、课程提纲：
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微组装/板级组件互连可靠性 一、概述 1.电子组件互连封装基本结构 ①PCB电子组件②MCM/HIC电子组件 2.互连封装可靠性要求及相关标准 ①互连封装可靠性要求 ②GJB/GB/IPC标准 3.互连封装的主要失效模式和机理 ①缺陷失效模式 ②寿命失效模式 4.互连封装可靠性评价 ①电子组件失效率预计 ②疲劳寿命评估方法 ③加速寿命评价方法 5.电子组件的可靠性设计方法 ①基于失效率控制的设计方法 ②疲劳寿命控制设计方法 |
验（HALT）求产品的极限应力，三、缺陷分析和产品改进 8、生产保障人员如何利用环境试验：一、物料检验，二、工艺保障，三、装配、运输 9、环境应力筛选（ESS）和HESS：一、环境应力筛选定义及其说明，二、环境应力筛选作用，三、环境应力筛选的基本特性 四、筛选用的典型环境应力恒定高温、温度变化、扫频正弦振动、随机振动、五、 温度变化与随机振动效果的比较，六、 各种应力筛选效果的比较，七、试验方案及评价方法，八、注意事项，九、整机老化筛选 10、选择合适的环境试验和试验应力 一、整机产品，二、组件产品，三、元器件产品，四、失效分析中如何确定环境应力 |
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可靠性物理 一、可靠性基础 1.1可靠性概论、1.2 可靠性概念、1.3 可靠性工程： ①可靠性是系统工程 ②可靠性管理 二、电子元件的失效模式和失效机理：电阻器、电容器的分类、结构和工艺电及失效模式和失效机理 三、半导体器件的失效模式和失效机理：3.1分立半导体器件、集成电路的分类、结构和工艺、失效模式和失效机理 四、失效分析方法与程序 4.1现场失效信息搜集与分析4.2失效样品性能参数测试4.3开封前的物理分析（密封性、IVA、PIND、X射线/SAM）4.4开封后测试和失效定位分析（显微镜/SEM、红外热象、光辐射、电子微探针）4.5失效部位的微区分析（微探针、SEM/EDX、制样分析）4.6模拟试验和失效再现4.7分析结果验证 |
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1、概述 2、环境试验的基础知识和术语 3、环境试验标准 4、环境应力对产品的影响 一、温度应力对产品的影响，二、湿度对产品的影响，三、机械应力对产品的影响 5、环境试验内容：一、高温试验，二、低温试验，三、温度变化试验，四、湿热试验，五、机械振动，六、大气腐蚀试验，七、其他试验 6、加速寿命试验（环境应力加速） 一、应力与时间的关系 二、电子产品加速寿命试验的理论 三、加速寿命试验对那些产品更有效 四、如何制定加速寿命试验方案 五、计算加速系数，推算举例 六、加速试验需要注意的问题 7、设计人员如何运用环境试验暴露产品缺陷 一、极限应力对产品的意义，二、运用步进应力试 |
六、培训费用：2400元/人（含培训、资料、证书、午餐费）。请在开班前传真报名回执表。我们将在开班前2天内传真《报到通知书》，告知具体地点及行车路线；
七、培训证书：中国电子电器可靠性工程协会培训证书；
八、师资介绍：
何小琦：女，高级工程师，长期从事电子元器件可靠性技术研究工作。自1996年以来，重点从事微组装电子组件互连封装失效模式、失效机理、可靠性设计和可靠性评价技术研究，承担和参与了多项国家科研项目，曾获得部级科技进步奖，在微组装电子产品的可靠性设计和评价方面具有丰富经验，在公开技术期刊和学术论文上发表多篇论文。
冯敬东男 高级工程师，在信产部电子第五研究所从事元器件与集成电路可靠性工作近30年。研究的压力传感器评价课题获得国防科技二等奖，曾多次为培训机构和整机厂所开设“老化、筛选和环境试验”。获得了非常好效果和极高的评价。曾在国内多家著名公司（清华同方、富士康等企业）进行内训。
费庆宇：高级工程师。长期从事半导体器件（包括集成电路和GaAs微波器件等）的失效机理和失效分析技术研究。曾赴联邦德国、加拿大和美国作访问学者。曾在国内外刊物和学术会议上发表论文三十余篇。曾多次应邀外出讲学，曾多次主持重大课题研究，他主持的《VLSI失效分析技术》课题荣获2003年度国防科技二等奖。
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