一个电源适配器的失效情况,请大侠帮忙分析! 可靠性技术 新手提问 09年3月3日 编辑 VincentWeiyunfu 取消关注 关注 私信 这是我公司终端产品在日本客户处发生的问题,此适配器用在购买者家中的! [[i]本帖最后由VincentWeiyunfu于2009-3-321:24编辑[/i]] 给TA打赏 共{{data.count}}人 人已打赏
justinbk lv4lv4 09年3月30日 不确定是否你碰到的同类适配器失效都是使用几年后发生的?如果是这样子,你就可以考虑一下做加速寿命试验,看看加速条件下的试验结果,你报告中只提到40℃、17W、8h的条件,可以把温度再提高些,时间再长些,可以放他几天一个星期,试验温度的前提是你的适配器中的其他元器件使用温度不会超过最高使用温度,避免出现新的失效模式。
VincentWeiyunfuA lv2lv2 09年3月25日 做了些与环境和负载相关的实验,不是很系统,凑合着看看吧!有任何想法大家都可以提! 文件下载:Stress Test Report of Adapter.pdf 密码或说明:环境和负载测试 大小:158KB attach文件下载后改名pdf后缀
aries lv4lv4 09年3月25日 [quote]原帖由[i]VincentWeiyunfu[/i]于2009-3-2423:50发表[url=pid=43677&ptid=5399][/url] 我们还没有测到有SuddenRise![/quote] 那你的report里面讲suddenrise似乎有点不妥吧 Iftheadapteroperatedover-load,thetemperateofoutputfiltercapacitorswouldsuddenrise,whichcaused bulgingoftheventandelectrolyteleak. 因为现在从你测试的结果来看电容的工作温度并不高,而且又没有suddenrise的问题 那是否需要去考量一下电容的质量问题呢? 而且你前面也说这些电容都是一个supplier提供的,其提供的加速试验的数据是否可信呢?
justinbk lv4lv4 09年3月24日 [quote]原帖由[i]VincentWeiyunfu[/i]于2009-3-2321:20发表[url=pid=43566&ptid=5399][/url] 事实上,分析我们是还在进行的!有任何的进展会给大家一个更新! 同时希望各位大侠有任何相关的经验和经历,也别吝啬分享一下,也可有更多的参考![/quote] 看了你的分析报告,在“c)Hightemperatureofenvironment”这个试验中,从你的图片上看好像试验过程中,适配器是敞开的,这点应该和电容器的实际工作环境有别,如果确实如此,这个试验还是应该修正一下,这个是否请楼上明确一下; 另外就是我不了解你测试温度的时候测试点是贴在什么地方?如果是测试电容温度,应该贴在电容侧壁上吧; 最后就是你可以对另外两个没有失效的适配器上同位号电容器进行参数测试,看看有没有参数劣化的迹象; 以上仅仅是个人的一点浅见。
aries lv4lv4 09年3月24日 [quote]原帖由[i]VincentWeiyunfu[/i]于2009-3-2321:20发表[url=pid=43566&ptid=5399][/url] 事实上,分析我们是还在进行的!有任何的进展会给大家一个更新! 同时希望各位大侠有任何相关的经验和经历,也别吝啬分享一下,也可有更多的参考![/quote] 从你的FAReport看来,你们还是认为是由于产品过载造成的fail. Iftheadapteroperatedover-load,thetemperateofoutputfiltercapacitorswouldsuddenrise,whichcaused bulgingoftheventandelectrolyteleak.Whenfiltercapacitorsfailed,maybetheadapterwouldstillwork normally,butprogressivelyheatandunstablecurrentwouldcauseothercomponentssuchasMOSFETU3and diodeD1failure,whichresultintheadaptercatastrophicfailure. 其实既然你讲到了thetemperatureofoutputfiltercapacitorswouldsuddenrise,那你们用34970测的时候有没有测到suddenrise呢 把结论建立在一个wouldsuddenrise的推测上,我觉得也不是很严谨呢
aries lv4lv4 09年3月24日 [quote]原帖由[i]VincentWeiyunfu[/i]于2009-3-915:57发表[url=pid=42163&ptid=5399][/url] 目前我们发现的10片,电容是同一个为止同一个厂家的! 这里更正一下,适配器的额定输出是13W,最大的应该是15W。我们的设备最大是12W,请大家在看看这样是否仍然还有问题。 事实上我一直有一个疑问的,如果是设…[/quote] 你的设备不就是适配器么? 还是没有搞懂究竟你是想说过载还是啥问题
VincentWeiyunfuA lv2lv2 09年3月23日 事实上,分析我们是还在进行的!有任何的进展会给大家一个更新! 同时希望各位大侠有任何相关的经验和经历,也别吝啬分享一下,也可有更多的参考! [[i]本帖最后由VincentWeiyunfu于2009-3-2322:12编辑[/i]] 文件下载:Failure Analysis Report.pdf 密码或说明:我们做了一些测试和分析 大小:163KB attach文件下载后改名pdf后缀
justinbk lv4lv4 09年3月23日 [quote]原帖由[i]VincentWeiyunfu[/i]于2009-3-2219:08发表[url=pid=43484&ptid=5399][/url] 谢谢大家的关注! 目前虽然比例不高,但日本客户已经要求我们考虑召回或评估风险部分替换了! 哎。。。。[/quote] 中国工程师缺乏日、德工程师的严谨,个人认为中国人若能在技术上能多学学这两个国家的严谨作风,行业技术将会有一个比较大的提升,这是题外话了。 回到这件事情上,因为你们没能找出rootcause,因此客户提出的召回或者替换的要求也是合理的。
fuckit lv4lv4 09年3月23日 [quote]原帖由[i]VincentWeiyunfu[/i]于2009-3-2219:08发表[url=pid=43484&ptid=5399][/url] 谢谢大家的关注! 目前虽然比例不高,但日本客户已经要求我们考虑召回或评估风险部分替换了! 哎。。。。[/quote] 小日本龟毛的要求最苛刻了.之前我们一个日本客户因为电容问题要求我们做加速寿命试验. 建议LZ做加速寿命试验,若产品在客户要求的寿命内不会大批量出现此问题,完全可以和客户argue
justinbk lv4lv4 09年3月13日 滤波电容在纹波比较高的环境下容易失效,在遇到一些电源不稳定或突然波动的情况下可能会引起电容失效; 另外看图片,你这个滤波电容应该是普通的铝电解吧,铝电解长期高温下工作,寿命会大大缩短,导致电容过早失效; 从你的描述来看“到现在为止,已经发现10片这样的问题,都发现电解电容已经鼓起”,通常是因为电容工作温度过高或长期工作在大纹波条件下,说明这个适配器热设计方面还需要改善,电容器存在使用温度过高的可能性较大,或纹波设计裕度不够。
squallgao lv3lv3 09年3月10日 [quote]原帖由[i]VincentWeiyunfu[/i]于2009-3-710:39发表[url=pid=41992&ptid=5399][/url] ——————————————————————————————————- 目前,我们正在确认客户端是否有短路的情况,可能很难得到结果。 另外对于过载的可能性,适配器最…[/quote] 既然是适配器,应该不小于9Vdc吧,你选用10V的电容,是不是…. 电解电容寿命受温度影响最大,接下来是电流,最后是电压。 另外,你输出电压是多少?
squallgao lv3lv3 09年3月10日 可以给你一个简单的HALTprofile 1)coldstepstresstest –开盖做,10度一个步进,10-15minperstep 电性能检测(电压,负载转换,偏压,过载…)perstep(去OTP、ocp) 做到-60C 2)hotstepstresstest –开盖做,10度一个步进,10-15minperstep 电性能检测(电压,负载转换,偏压,过载…)perstep(去OTP、ocp) 做到120C 3)rapidtest –开盖做,5cycles 电性能检测(电压,负载转换,偏压,过载…)percycle(去OTP、ocp) 每个温度极限10min-15min lowtemp-LOL hightemp-HOL 4)vibstepstresstest –带盖做,2.5/5grms一个步进,10-15minperstep 电性能检测perstep 做到40grms 5)combinetest 5cyclestest lowtemp-LOL hightemp-HOL 每个温度极限10min-15min vib1/52/53/54/55/5VOL 10cyclestest lowtemp-LOL hightemp-HOL 每个温度极限10min-15min vib0.375VOL0.5VOL0.75VOL各3cycles再加一cyclewith5g 在任意一项目发现问题,改进后继续往下做。 总体测试费用算下来在20K-30K之间。
VincentWeiyunfuA lv2lv2 09年3月9日 目前我们发现的10片,电容是同一个为止同一个厂家的! 这里更正一下,适配器的额定输出是13W,最大的应该是15W。我们的设备最大是12W,请大家在看看这样是否仍然还有问题。 事实上我一直有一个疑问的,如果是设计,降额的问题,使用两年以后,不良比例应该会不止80ppm吧?
aries lv4lv4 09年3月9日 不过,说实话,我更倾向于认为是你们的降额没有做好. 当然客户在使用的情况下,其设备的功率很逼近你的最大输出功率,所以会让你的产品一直处于近乎满负载的工作情况下.这样容易加速样品的损坏. 但是关键还是你的thermal和derating没有做好.需要给自己的产品预留一定的额度.
aries lv4lv4 09年3月9日 首先你需要核实一下客户的设备的最大功率是多少,如果其功率低于你的最大输出功率13w,那么也没什么好讲的. 因为只要没有超过你的最大输出功率,那么你就必须guarantee你产品的performance. 其次,你说现在已经有10pcs的样品都是这个问题,这10pcs样品是不是都是在电路上的同样一个电容,or他们是不是都是由一个supplier提供,必须要比较下这10pcs的样品是否有共同点.如果是同样位置,那应该从设计结构上去寻找解决方法.如果是由一个supplier提供,那你或许需要去追查supplier的责任 但是不管怎么说,你都需要测量一下,在密封的环境下这些电容的工作温度. 可以先把盖子打开,然后把温度传感器装好,再把盖子盖上.因为温度传感器的线非常非常细,所以测出来的数据可以当作实际使用时电容的工作环境.
adminM可靠性网管理员 lv6lv6 09年3月9日 是的,选用电源时给的裕度远远不够。12W的负载,只用了13W的电源。 最近我们做了一个产品,是48W的,客户终端才用到30W,而且还有备份一个。
VincentWeiyunfuA lv2lv2 09年3月7日 [quote]原帖由[i]squallgao[/i]于2009-3-409:53发表[url=pid=41700&ptid=5399][/url] 1)客户使用的环境是?有无短路,过载发生。 2)记得日本是120Vac的电压,那你的adapter输入电流较高。有可能是输入部分电路元件性能漂移所致。 但是其是好像后端的问题。 3)而且从图片上看,好像是有输出端锡…[/quote] ——————————————————————————————————- 目前,我们正在确认客户端是否有短路的情况,可能很难得到结果。 另外对于过载的可能性,适配器最大的输出功率是13W,而使用的设备最大的设计功率是12W。请问可能是什么情况造成过载呢?接下来的分析是发现问题是由输出端的虑波电解电容失效开始的,规格是1000uF,10V,±20%,105℃,4000h,SamXon厂家的,而且在输出线的焊接点上有较严重的发黑迹象,是乎能更确切的证明问题和设备的工作状况有关了? 到现在为止,已经发现10片这样的问题,都发现电解电容已经鼓起,而且部分发现有漏液的情况,失效比例在80ppm左右,80%是在使用2年以上出的问题,我也在想是不是电解电容本身就会有这样一个比例的失效呀?请各位大侠继续支持!
VincentWeiyunfuA lv2lv2 09年3月6日 对不良的适配器做进一步的分析,发现靠近发热整流器的一个电解电容失效,已经膨胀了。不过奇怪的是它旁边同样规格的电解电容即没有膨胀也没有失效。我们测量了一下同样的工作条件下,两个电解电容的本体温度只有3到4的差异。附上照片给大家参考! 请教一下,像这样的适配器工作一段时间后,外部环境温度和内部有多少差异?注:此适配器是密封的。 供应商给我们的解释如下:但我们未能拿到详细的电路图。 產品開關管短路,保險管開路,電解電容出現失效(量測無容量).產品其它元件保持完好. 根據電源產品工作特性,是在電容出現不良后引起產品開關管,保險管不良. 4根據產品元件損壞情況,敝司認為產品可能是由于超載工作,產品工作環境溫度偏高或產品使用時通風不良,而導致產品溫升升高,影響產品元件使用壽命,加速元件失效. 4在電容失效后,由於負載的變化(負載加大),產品處于超載工作狀態,產品整機溫升明顯升高,保持正常電壓輸出一段時間后,過高的產品溫升使(MOSFET)失效,此時產品不再工作.同時過高的溫升也使產品CASE出現變形現象. 请大家能帮忙给出更多电容失效的解释。 [[i]本帖最后由VincentWeiyunfu于2009-3-620:45编辑[/i]]
elic lv2lv2 09年3月4日 建议楼主对失效的器件进行定位, 钽电容引起燃烧威力大,但是电容的失效模式一大半是短路,主回路发生短路的可能性也不小(因为你使用3年了,电源有比较大的电容,容易失效), 另外,得看看设计,为什么在发生异常的时候,保险丝没有动作,电源应该都有保险丝吧,是否选择的保险丝没有起作用,降额太多了??:L 期待楼主的答案。
squallgao lv3lv3 09年3月4日 1)客户使用的环境是?有无短路,过载发生。 2)记得日本是120Vac的电压,那你的adapter输入电流较高。有可能是输入部分电路元件性能漂移所致。 但是其是好像后端的问题。 3)而且从图片上看,好像是有输出端锡熔现象。 --checkoutputcap的容值; --check输出电性能或者保护功能(短路,欠压..) 3)应该没有钽电容在里面。 [[i]本帖最后由squallgao于2009-3-410:05编辑[/i]]
34581243 lv4lv4 09年3月4日 我觉得电源电压偏高的可能不大, 电容的损坏倒是有可能的,日本电压是110V的,你的电源适配器是宽频电源, 其实在国内设计的电源适配器里面,一般都更注重220V的测试,当然110V的测试也有, 但是元件的选型还是偏向前者,所以元件长期在欠压的情况下运作(在一定程度讲) 电容更容易出问题, 当然你可以找同型号产品做个110V的HALT验证一下。 个人意见
zhanghjspace lv4lv4 09年3月4日 乍一看,好像是外部表面是被高温烧坏的。 不过打开以后才知道是内部损坏,我估计也应该是电容烧坏了,是不是因为使用时间有长了(三年),再有,会不会是由于使用的电源电压偏高所致。
VincentWeiyunfuA lv2lv2 09年3月3日 打开适配器的一些发现!这个产品已经在客户端使用将尽三年了。 [[i]本帖最后由VincentWeiyunfu于2009-3-321:58编辑[/i]]
不确定是否你碰到的同类适配器失效都是使用几年后发生的?如果是这样子,你就可以考虑一下做加速寿命试验,看看加速条件下的试验结果,你报告中只提到40℃、17W、8h的条件,可以把温度再提高些,时间再长些,可以放他几天一个星期,试验温度的前提是你的适配器中的其他元器件使用温度不会超过最高使用温度,避免出现新的失效模式。
做了些与环境和负载相关的实验,不是很系统,凑合着看看吧!有任何想法大家都可以提!
电容侧面测得温度比在顶部测得的高4到5度!
[quote]原帖由[i]VincentWeiyunfu[/i]于2009-3-2423:50发表[url=pid=43677&ptid=5399][/url]
我们还没有测到有SuddenRise![/quote]
那你的report里面讲suddenrise似乎有点不妥吧
Iftheadapteroperatedover-load,thetemperateofoutputfiltercapacitorswouldsuddenrise,whichcaused
bulgingoftheventandelectrolyteleak.
因为现在从你测试的结果来看电容的工作温度并不高,而且又没有suddenrise的问题
那是否需要去考量一下电容的质量问题呢?
而且你前面也说这些电容都是一个supplier提供的,其提供的加速试验的数据是否可信呢?
学习来啦,谢谢!
你指的测试点是指电容器上的吗?从顶部调整到侧面,温度有差别,请说清楚些哪里比哪里的温度为高?
应该说测试适配器是没有完全封闭的,我们尽量去封住的!
我们做了新一轮的测试,测试点从顶部调整到侧面了,温度会有4到5度差异!
我们还没有测到有SuddenRise!
[quote]原帖由[i]VincentWeiyunfu[/i]于2009-3-2321:20发表[url=pid=43566&ptid=5399][/url]
事实上,分析我们是还在进行的!有任何的进展会给大家一个更新!
同时希望各位大侠有任何相关的经验和经历,也别吝啬分享一下,也可有更多的参考![/quote]
看了你的分析报告,在“c)Hightemperatureofenvironment”这个试验中,从你的图片上看好像试验过程中,适配器是敞开的,这点应该和电容器的实际工作环境有别,如果确实如此,这个试验还是应该修正一下,这个是否请楼上明确一下;
另外就是我不了解你测试温度的时候测试点是贴在什么地方?如果是测试电容温度,应该贴在电容侧壁上吧;
最后就是你可以对另外两个没有失效的适配器上同位号电容器进行参数测试,看看有没有参数劣化的迹象;
以上仅仅是个人的一点浅见。
[quote]原帖由[i]VincentWeiyunfu[/i]于2009-3-2321:20发表[url=pid=43566&ptid=5399][/url]
事实上,分析我们是还在进行的!有任何的进展会给大家一个更新!
同时希望各位大侠有任何相关的经验和经历,也别吝啬分享一下,也可有更多的参考![/quote]
从你的FAReport看来,你们还是认为是由于产品过载造成的fail.
Iftheadapteroperatedover-load,thetemperateofoutputfiltercapacitorswouldsuddenrise,whichcaused
bulgingoftheventandelectrolyteleak.Whenfiltercapacitorsfailed,maybetheadapterwouldstillwork
normally,butprogressivelyheatandunstablecurrentwouldcauseothercomponentssuchasMOSFETU3and
diodeD1failure,whichresultintheadaptercatastrophicfailure.
其实既然你讲到了thetemperatureofoutputfiltercapacitorswouldsuddenrise,那你们用34970测的时候有没有测到suddenrise呢
把结论建立在一个wouldsuddenrise的推测上,我觉得也不是很严谨呢
[quote]原帖由[i]VincentWeiyunfu[/i]于2009-3-915:57发表[url=pid=42163&ptid=5399][/url]
目前我们发现的10片,电容是同一个为止同一个厂家的!
这里更正一下,适配器的额定输出是13W,最大的应该是15W。我们的设备最大是12W,请大家在看看这样是否仍然还有问题。
事实上我一直有一个疑问的,如果是设…[/quote]
你的设备不就是适配器么?
还是没有搞懂究竟你是想说过载还是啥问题
事实上,分析我们是还在进行的!有任何的进展会给大家一个更新!
同时希望各位大侠有任何相关的经验和经历,也别吝啬分享一下,也可有更多的参考!
[[i]本帖最后由VincentWeiyunfu于2009-3-2322:12编辑[/i]]
[quote]原帖由[i]VincentWeiyunfu[/i]于2009-3-2219:08发表[url=pid=43484&ptid=5399][/url]
谢谢大家的关注!
目前虽然比例不高,但日本客户已经要求我们考虑召回或评估风险部分替换了!
哎。。。。[/quote]
中国工程师缺乏日、德工程师的严谨,个人认为中国人若能在技术上能多学学这两个国家的严谨作风,行业技术将会有一个比较大的提升,这是题外话了。
回到这件事情上,因为你们没能找出rootcause,因此客户提出的召回或者替换的要求也是合理的。
[quote]原帖由[i]VincentWeiyunfu[/i]于2009-3-2219:08发表[url=pid=43484&ptid=5399][/url]
谢谢大家的关注!
目前虽然比例不高,但日本客户已经要求我们考虑召回或评估风险部分替换了!
哎。。。。[/quote]
小日本龟毛的要求最苛刻了.之前我们一个日本客户因为电容问题要求我们做加速寿命试验.
建议LZ做加速寿命试验,若产品在客户要求的寿命内不会大批量出现此问题,完全可以和客户argue
谢谢大家的关注!
目前虽然比例不高,但日本客户已经要求我们考虑召回或评估风险部分替换了!
哎。。。。
滤波电容在纹波比较高的环境下容易失效,在遇到一些电源不稳定或突然波动的情况下可能会引起电容失效;
另外看图片,你这个滤波电容应该是普通的铝电解吧,铝电解长期高温下工作,寿命会大大缩短,导致电容过早失效;
从你的描述来看“到现在为止,已经发现10片这样的问题,都发现电解电容已经鼓起”,通常是因为电容工作温度过高或长期工作在大纹波条件下,说明这个适配器热设计方面还需要改善,电容器存在使用温度过高的可能性较大,或纹波设计裕度不够。
[quote]原帖由[i]VincentWeiyunfu[/i]于2009-3-710:39发表[url=pid=41992&ptid=5399][/url]
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目前,我们正在确认客户端是否有短路的情况,可能很难得到结果。
另外对于过载的可能性,适配器最…[/quote]
既然是适配器,应该不小于9Vdc吧,你选用10V的电容,是不是….
电解电容寿命受温度影响最大,接下来是电流,最后是电压。
另外,你输出电压是多少?
可以给你一个简单的HALTprofile
1)coldstepstresstest
–开盖做,10度一个步进,10-15minperstep
电性能检测(电压,负载转换,偏压,过载…)perstep(去OTP、ocp)
做到-60C
2)hotstepstresstest
–开盖做,10度一个步进,10-15minperstep
电性能检测(电压,负载转换,偏压,过载…)perstep(去OTP、ocp)
做到120C
3)rapidtest
–开盖做,5cycles
电性能检测(电压,负载转换,偏压,过载…)percycle(去OTP、ocp)
每个温度极限10min-15min
lowtemp-LOL
hightemp-HOL
4)vibstepstresstest
–带盖做,2.5/5grms一个步进,10-15minperstep
电性能检测perstep
做到40grms
5)combinetest
5cyclestest
lowtemp-LOL
hightemp-HOL
每个温度极限10min-15min
vib1/52/53/54/55/5VOL
10cyclestest
lowtemp-LOL
hightemp-HOL
每个温度极限10min-15min
vib0.375VOL0.5VOL0.75VOL各3cycles再加一cyclewith5g
在任意一项目发现问题,改进后继续往下做。
总体测试费用算下来在20K-30K之间。
还和使用频度有关系,80ppm说不定是一个表面现象
目前我们发现的10片,电容是同一个为止同一个厂家的!
这里更正一下,适配器的额定输出是13W,最大的应该是15W。我们的设备最大是12W,请大家在看看这样是否仍然还有问题。
事实上我一直有一个疑问的,如果是设计,降额的问题,使用两年以后,不良比例应该会不止80ppm吧?
不过,说实话,我更倾向于认为是你们的降额没有做好.
当然客户在使用的情况下,其设备的功率很逼近你的最大输出功率,所以会让你的产品一直处于近乎满负载的工作情况下.这样容易加速样品的损坏.
但是关键还是你的thermal和derating没有做好.需要给自己的产品预留一定的额度.
首先你需要核实一下客户的设备的最大功率是多少,如果其功率低于你的最大输出功率13w,那么也没什么好讲的.
因为只要没有超过你的最大输出功率,那么你就必须guarantee你产品的performance.
其次,你说现在已经有10pcs的样品都是这个问题,这10pcs样品是不是都是在电路上的同样一个电容,or他们是不是都是由一个supplier提供,必须要比较下这10pcs的样品是否有共同点.如果是同样位置,那应该从设计结构上去寻找解决方法.如果是由一个supplier提供,那你或许需要去追查supplier的责任
但是不管怎么说,你都需要测量一下,在密封的环境下这些电容的工作温度.
可以先把盖子打开,然后把温度传感器装好,再把盖子盖上.因为温度传感器的线非常非常细,所以测出来的数据可以当作实际使用时电容的工作环境.
同意楼上两位的说法,一般来说为:实际负载=电源的80%
像我们做的高价值产品现在都是用的70%左右的。
是的,选用电源时给的裕度远远不够。12W的负载,只用了13W的电源。
最近我们做了一个产品,是48W的,客户终端才用到30W,而且还有备份一个。
这样的使用方式就不对,12W的设计使用13W的适配器,其欲度远不能满足12W的功率要求.
学习中
[quote]原帖由[i]squallgao[/i]于2009-3-409:53发表[url=pid=41700&ptid=5399][/url]
1)客户使用的环境是?有无短路,过载发生。
2)记得日本是120Vac的电压,那你的adapter输入电流较高。有可能是输入部分电路元件性能漂移所致。
但是其是好像后端的问题。
3)而且从图片上看,好像是有输出端锡…[/quote]
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目前,我们正在确认客户端是否有短路的情况,可能很难得到结果。
另外对于过载的可能性,适配器最大的输出功率是13W,而使用的设备最大的设计功率是12W。请问可能是什么情况造成过载呢?接下来的分析是发现问题是由输出端的虑波电解电容失效开始的,规格是1000uF,10V,±20%,105℃,4000h,SamXon厂家的,而且在输出线的焊接点上有较严重的发黑迹象,是乎能更确切的证明问题和设备的工作状况有关了?
到现在为止,已经发现10片这样的问题,都发现电解电容已经鼓起,而且部分发现有漏液的情况,失效比例在80ppm左右,80%是在使用2年以上出的问题,我也在想是不是电解电容本身就会有这样一个比例的失效呀?请各位大侠继续支持!
对不良的适配器做进一步的分析,发现靠近发热整流器的一个电解电容失效,已经膨胀了。不过奇怪的是它旁边同样规格的电解电容即没有膨胀也没有失效。我们测量了一下同样的工作条件下,两个电解电容的本体温度只有3到4的差异。附上照片给大家参考!
请教一下,像这样的适配器工作一段时间后,外部环境温度和内部有多少差异?注:此适配器是密封的。
供应商给我们的解释如下:但我们未能拿到详细的电路图。
產品開關管短路,保險管開路,電解電容出現失效(量測無容量).產品其它元件保持完好.
根據電源產品工作特性,是在電容出現不良后引起產品開關管,保險管不良.
4根據產品元件損壞情況,敝司認為產品可能是由于超載工作,產品工作環境溫度偏高或產品使用時通風不良,而導致產品溫升升高,影響產品元件使用壽命,加速元件失效.
4在電容失效后,由於負載的變化(負載加大),產品處于超載工作狀態,產品整機溫升明顯升高,保持正常電壓輸出一段時間后,過高的產品溫升使(MOSFET)失效,此時產品不再工作.同時過高的溫升也使產品CASE出現變形現象.
请大家能帮忙给出更多电容失效的解释。
[[i]本帖最后由VincentWeiyunfu于2009-3-620:45编辑[/i]]


你好!
当然你可以找同型号产品做个110V的HALT验证一下。
能详细的介绍一下110V的HALT验证吗?非常感谢!
电容贮存期过了,性能下降很快
可以去查一下电容的批次,是否使用前已经贮存了较长的时间
建议楼主对失效的器件进行定位,
钽电容引起燃烧威力大,但是电容的失效模式一大半是短路,主回路发生短路的可能性也不小(因为你使用3年了,电源有比较大的电容,容易失效),
另外,得看看设计,为什么在发生异常的时候,保险丝没有动作,电源应该都有保险丝吧,是否选择的保险丝没有起作用,降额太多了??:L
期待楼主的答案。
1)客户使用的环境是?有无短路,过载发生。
2)记得日本是120Vac的电压,那你的adapter输入电流较高。有可能是输入部分电路元件性能漂移所致。
但是其是好像后端的问题。
3)而且从图片上看,好像是有输出端锡熔现象。
--checkoutputcap的容值;
--check输出电性能或者保护功能(短路,欠压..)
3)应该没有钽电容在里面。
[[i]本帖最后由squallgao于2009-3-410:05编辑[/i]]
我觉得电源电压偏高的可能不大,
电容的损坏倒是有可能的,日本电压是110V的,你的电源适配器是宽频电源,
其实在国内设计的电源适配器里面,一般都更注重220V的测试,当然110V的测试也有,
但是元件的选型还是偏向前者,所以元件长期在欠压的情况下运作(在一定程度讲)
电容更容易出问题,
当然你可以找同型号产品做个110V的HALT验证一下。
个人意见
乍一看,好像是外部表面是被高温烧坏的。
不过打开以后才知道是内部损坏,我估计也应该是电容烧坏了,是不是因为使用时间有长了(三年),再有,会不会是由于使用的电源电压偏高所致。
从图中看到,是不是有电容损坏。
这么大面积的烧毁,我只想得到钽电容有这种威力,不知道对不对。
我去帮你问问。
那在认证时没有进行过加速寿命试验吗?那时没有发现类似情况?如果类似电源适配器的加速试验应如何进行?请说明方法?谢谢~~
打开适配器的一些发现!这个产品已经在客户端使用将尽三年了。
[[i]本帖最后由VincentWeiyunfu于2009-3-321:58编辑[/i]]



