半导体器件参数退化失效分析

看到一篇不错的半导体器件参数退化失效分析报告,供大家参考~!

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求MIL-STD-750标准

2009-3-6 15:55:05

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MIL-STD-785对应GJB标准

2009-3-6 17:24:12

17 条回复 A文章作者 M管理员
  1. 716980748

    购买了付费内容

  2. 543264282

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  3. huxiangksnr

    下载后认真学习,谢谢

  4. 貌似猪不爱

    互相交流:handshake

  5. 鸿飞千里

    感谢楼主

  6. chjhwfj

    谢谢楼主分享

  7. kangxiaohu

    不错,很值得的学习,我喜欢

  8. pinocchiox

    謝謝分享:)

  9. czhaoxing

    谢谢楼主分享!!

  10. 俱兴

    谢谢楼主!

  11. zhangxw

    半导体器件参数退化并不是一定会产生失效,而是积累到一定的程度才会产生失效

  12. fmea02

    非常感谢
    学习了

  13. hait

    谢谢楼主

  14. zhanghjspace

    这篇文章论坛里已经有了。
    [url]tid=2037&highlight=%B2%CE%CA%FD%CD%CB%BB%AF%CA%A7%D0%A7%B7%D6%CE%F6[/url]

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