可靠性技术讲座资料上篇
可靠性技术讲座(上篇)
1可靠性增长试验及其评价方法………………………………………2
1.1可靠性增长试验的目的2
1.2可靠性增长试验方法3
1.3可靠性增长试验试验数据的处理4
1.4AMSAA可靠性增长模型7
1.5Duane可靠性增长模型9
1.6AMSAA模型与Duane模型的关系10
1.7可靠性增长试验的跟踪与评价方法10
1.8使用举例11
1.9几个应注意的问题12
2可靠性统计试验………………………………………………………14
2.1可靠性统计试验的目的和基本概念14
2.2可靠性统计试验的分类14
2.3试验大纲15
2.4试验条件16
2.5试验样品18
2.6试验方案18
2.7可靠性测定试验20
2.8可靠性鉴定试验和验收试验24
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没有下部了?
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牛牛牛,学习了
谢谢分享学习一下!!!
下篇出来没有?
感谢楼主!
好资料,谢谢版主!!!
不错,很值得的学习,我喜欢
分享是一种美德,感谢!
很详细,不错,有下篇吗
谢了,下一讲呢?
不错,很值得的学习,我喜欢
多谢了!
在进行产品的可靠性测定试验时,一般采用截尾试验的方法。有定时截尾与定数截尾试验之分。所谓定时截尾,就是当试验进行到预定的试验时间T时试验就终止,然后根据试验中产品发生的故障个数,对产品的可靠性作出评估;所谓定数截尾,就是当试验进行到预定的故障个数r时试验就终止,然后根据试验终止时所累积的总有效试验时间,对产品的可靠性作出评价。可见这两种试验方法,都是在部分产品出现故障时就停止试验,这样我们就可在相对短的试验时间内得出试验的结果。
在进行可靠性测定试验时,另一项必须在事先要做的工作是:约定试验中判别产品故障的标准,即制订“失效判据”。一个产品性能的好坏,通常是由许多技术指标来进行判断的。在可靠性试验中除有特殊说明外,一般的做法是:只要有任何一项不合格,就计为产品不合格。而引起产品(特别是电子设备)不合格的原因,可能是由某一个,但也可能是由某几个元器件或工艺的问题引起的。当确认这些失效/故障是独立发生,而不是从属发生(即由一个发生,引起另一个也发生)时,则凡是独立的都应计为一次故障。换句话说,即在可靠性试验中不是简单地统计产品的不合格数,而是要统计发生独立故障的个数。
有下篇吗?
好像在论坛里看过!
不过还是要谢谢LZ分享~
[[i]本帖最后由kissinger521于2009-4-1317:56编辑[/i]]
分享是一种美德,感谢LZ倾情奉献!