物质的成份分析就是测有什么元素吗？ 可靠性技术 可靠性试验 09年4月22日 编辑 xwamy 取消关注 关注 私信 物质的成份分析就是测有什么元素吗？总是搞不明白元素和物质的组成有什么关系，拜求！！！ 给TA打赏 共{{data.count}}人 人已打赏
cti lv3lv3 09年4月22日 :victory::victory::victory::victory::victory::victory::victory::victory::victory:
justinbk lv4lv4 09年4月22日 [quote]原帖由[i]xwamy[/i]于2009-4-2210:13发表[url=pid=46168&ptid=5897][/url] 物质的成份分析就是测有什么元素吗？总是搞不明白元素和物质的组成有什么关系，拜求！！！[/quote] 成份分析通常要具体到某一种物质，而不是简单的元素。比如具体到是何种化合物，各种化合物的比例多少。有时候不能得到是具体那种化合物，比如一种溶液里面有硫酸钠和氯化镁，你测试的时候就不知道究竟到底是硫酸钠和氯化镁溶液还是硫酸镁和氯化钠的溶液，不过这个不重要，而且也根本无法分辨出来，只要知道有哪几种官能团就ok了，比如我们可以通过分析知道这种溶液中含有水、硫酸根、氯离子、镁离子和钠离子，这就是成份分析，但我们无法具体到那一种物质，因为酸根离子和上面提到得金属离子并不能的以单独的物质形式存在。 又比如我们很多时候需要分析某种材料表面的沾污成份，这里可以用到的分析仪器很多，检测范围和分辨能力差别很大，要根据需要区别选择。有些特殊情况可能还需要分析到元素的同位素。 简单的讲，元素就是你在元素周期表里面看到的，它本身并不代表这种元素的存在形式究竟以化合物还是单质存在，而物质就要具体到元素的构成形态和存在方式。只是个人理解，你也可以具体上百度或googld上查下上述名词定义:P
fanweipin lv5lv5 09年4月22日 EDX也是属于XRF的能量色散型，还有种WDX波长色散型，不过现在市面上多是EDX。 XRF用的物理原理，通过X射线穿透原子内部电子，由外层电子补给产生的能量差来判断属于何种元素。所以它只能测元素而不能测化合物。ICP则需要对样品进行溶解，采用的是化学方法，测试的是样品的溶液，它的精确度和准确度当然比XRF要高 X射线荧光分析法 原子发射与原子吸收光谱法是利用原子的价电子激发产生的特征光谱及其强度进行分析。X-射线荧光分析法则是利用原子内层电子的跃迁来进行分析。X射线是伦琴于1895年发现的一种电磁辐射，其波长为0.01～10nm。在真空管内用电加热灯丝（钨丝阴极）产生大量热电子，热电子被高压（万伏）加速撞击到金属Mo，Cu，Fe，Cr，Rh等材料制成的阳极靶上，电子运动突然停止，电子动能部分转变成X射线辐射出来，它包含有高强度的单色X射线——特征X射线外，还有连续的X射线。高能粒子（电子或连续X射线等）与靶材料碰撞时，将靶原子内层电子（如K，L，M等层）逐出成为光电子，原子便出现一个空穴，此时原子处于激发态，随即较外层电子立即跃迁到能量较低的内层空轨道上，填补空穴位。若此时以X射线的形式辐射多余能量，便是特征X射线。当K层电子被逐出后，所有外层电子都可能跳回到K层空穴便形成K系特征X射线。由L，M，N…层跃迁到K层的X光分别为Kα，Kβ，Kγ…辐射。同样地，逐出L或M层电子后将有相应的L系或M系特征X射线：Lα，Lβ…；Mα，Mβ…。Kα，Kβ辐射的波长λ是特征的，它取决于K，L，M电子能层的能量： 可以看出，不同元素由于原子结构不同，各电子层的能量不同，所以它们的特征X射线波长也就各不相同。 通常人们将X光管所产生的X射线称为初级X射线。以初级X射线为激发光源照射试样，激发态试样所释放的能量不为原子内部吸收而以辐射形式发出次级X射线，这便是X射线荧光，参见图14－10。荧光X射线的最大特点是只发射特征X射线而不产生连续X射线。试样激发态释放能量时还可以被原子内部吸收继而逐出较外层的另一个次级光电子，此种现象称为俄歇效应。被逐出的电子称为俄歇电子。俄歇电子的能量也是特征的，但不同于次级X射线。 特征X射线的波长λ随元素原子序数Z的增加而变短，两者的关系 射线系的K，S值不同。只要测得荧光X射线的波长及其强度，便可确定试样中所存在的元素及其含量，这是荧光X射线法定性与定量分析的依据。人们利用X射线荧光光谱来测定试样所产生的特征荧光X射线的波长，其工作原理为：当荧光X射线以入射角θ射到已知晶面间距离d的晶体（如LiF）的晶面上时，发生衍射现象。根据晶体衍射的布拉格公式λ∝dsinθ可知，产生衍射的入射光的波长λ与入射角θ有特定的对应关系。逐渐旋转晶面用以调整荧光X射线的入射角从0°至90°，在2θ角度的方向上，可依次检测到不同λ的荧光X射线相应的强度，即得到试样中的系列荧光X射线强度与2θ关系的X射线荧光光谱图，说明试样含有Cr，Mn，Fe，Co，Ni，Cu，W等7种金属元素。至于它们的含量还应与含有相应元素的标准物的荧光X射线强度相比较而获得。 X射线荧光分析法的特点与适应范围是： （1）适应范围广 除了H，He，Li，Be外，可对周期表中从5B到92U作元素的常量、微量的定性和定量分析。 （2）操作快速方便 在短时间内可同时完成多种元素的分析。 （3）不受试样形状和大小的限制，不破坏试样，分析的试样应该均匀。 （4）灵敏度偏低 一般只能分析含量大于0.01％的元素
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以平民化的语言讲讲，感觉就是不一样！谢谢楼上！
[quote]原帖由[i]xwamy[/i]于2009-4-2210:13发表[url=pid=46168&ptid=5897][/url]
物质的成份分析就是测有什么元素吗？总是搞不明白元素和物质的组成有什么关系，拜求！！！[/quote]
成份分析通常要具体到某一种物质，而不是简单的元素。比如具体到是何种化合物，各种化合物的比例多少。有时候不能得到是具体那种化合物，比如一种溶液里面有硫酸钠和氯化镁，你测试的时候就不知道究竟到底是硫酸钠和氯化镁溶液还是硫酸镁和氯化钠的溶液，不过这个不重要，而且也根本无法分辨出来，只要知道有哪几种官能团就ok了，比如我们可以通过分析知道这种溶液中含有水、硫酸根、氯离子、镁离子和钠离子，这就是成份分析，但我们无法具体到那一种物质，因为酸根离子和上面提到得金属离子并不能的以单独的物质形式存在。
又比如我们很多时候需要分析某种材料表面的沾污成份，这里可以用到的分析仪器很多，检测范围和分辨能力差别很大，要根据需要区别选择。有些特殊情况可能还需要分析到元素的同位素。
简单的讲，元素就是你在元素周期表里面看到的，它本身并不代表这种元素的存在形式究竟以化合物还是单质存在，而物质就要具体到元素的构成形态和存在方式。只是个人理解，你也可以具体上百度或googld上查下上述名词定义:P
有客户说要做塑胶的成份分析？是做元素吗？还是什么其他！？谢谢
你要弄清楚元素和物质组成的区别做什么呢?
物质组成如果细分到最后就是元素了
实在想不懂弄清这俩区别有啥意义
有没有简单解释的，
很多要学呀！！！谢谢
EDX也是属于XRF的能量色散型，还有种WDX波长色散型，不过现在市面上多是EDX。
XRF用的物理原理，通过X射线穿透原子内部电子，由外层电子补给产生的能量差来判断属于何种元素。所以它只能测元素而不能测化合物。ICP则需要对样品进行溶解，采用的是化学方法，测试的是样品的溶液，它的精确度和准确度当然比XRF要高
X射线荧光分析法
原子发射与原子吸收光谱法是利用原子的价电子激发产生的特征光谱及其强度进行分析。X-射线荧光分析法则是利用原子内层电子的跃迁来进行分析。X射线是伦琴于1895年发现的一种电磁辐射，其波长为0.01～10nm。在真空管内用电加热灯丝（钨丝阴极）产生大量热电子，热电子被高压（万伏）加速撞击到金属Mo，Cu，Fe，Cr，Rh等材料制成的阳极靶上，电子运动突然停止，电子动能部分转变成X射线辐射出来，它包含有高强度的单色X射线——特征X射线外，还有连续的X射线。高能粒子（电子或连续X射线等）与靶材料碰撞时，将靶原子内层电子（如K，L，M等层）逐出成为光电子，原子便出现一个空穴，此时原子处于激发态，随即较外层电子立即跃迁到能量较低的内层空轨道上，填补空穴位。若此时以X射线的形式辐射多余能量，便是特征X射线。当K层电子被逐出后，所有外层电子都可能跳回到K层空穴便形成K系特征X射线。由L，M，N…层跃迁到K层的X光分别为Kα，Kβ，Kγ…辐射。同样地，逐出L或M层电子后将有相应的L系或M系特征X射线：Lα，Lβ…；Mα，Mβ…。Kα，Kβ辐射的波长λ是特征的，它取决于K，L，M电子能层的能量：
可以看出，不同元素由于原子结构不同，各电子层的能量不同，所以它们的特征X射线波长也就各不相同。
通常人们将X光管所产生的X射线称为初级X射线。以初级X射线为激发光源照射试样，激发态试样所释放的能量不为原子内部吸收而以辐射形式发出次级X射线，这便是X射线荧光，参见图14－10。荧光X射线的最大特点是只发射特征X射线而不产生连续X射线。试样激发态释放能量时还可以被原子内部吸收继而逐出较外层的另一个次级光电子，此种现象称为俄歇效应。被逐出的电子称为俄歇电子。俄歇电子的能量也是特征的，但不同于次级X射线。
特征X射线的波长λ随元素原子序数Z的增加而变短，两者的关系
射线系的K，S值不同。只要测得荧光X射线的波长及其强度，便可确定试样中所存在的元素及其含量，这是荧光X射线法定性与定量分析的依据。人们利用X射线荧光光谱来测定试样所产生的特征荧光X射线的波长，其工作原理为：当荧光X射线以入射角θ射到已知晶面间距离d的晶体（如LiF）的晶面上时，发生衍射现象。根据晶体衍射的布拉格公式λ∝dsinθ可知，产生衍射的入射光的波长λ与入射角θ有特定的对应关系。逐渐旋转晶面用以调整荧光X射线的入射角从0°至90°，在2θ角度的方向上，可依次检测到不同λ的荧光X射线相应的强度，即得到试样中的系列荧光X射线强度与2θ关系的X射线荧光光谱图，说明试样含有Cr，Mn，Fe，Co，Ni，Cu，W等7种金属元素。至于它们的含量还应与含有相应元素的标准物的荧光X射线强度相比较而获得。
X射线荧光分析法的特点与适应范围是：
（1）适应范围广
除了H，He，Li，Be外，可对周期表中从5B到92U作元素的常量、微量的定性和定量分析。
（2）操作快速方便
在短时间内可同时完成多种元素的分析。
（3）不受试样形状和大小的限制，不破坏试样，分析的试样应该均匀。
（4）灵敏度偏低
一般只能分析含量大于0.01％的元素