该冲击试验箱为待测品静置制冷,热交替冲击方式,广泛使用于电子零部件测试,半导体,电子线路板,金属化学,材料等测试设备。试验箱下部为低温蓄冷区,上部为高温蓄热区,试件(待测品)放置在试验箱中部,高温冲击时,上风门打开,形成高温内循环。低温冲击时,上风门关闭,下风门打开,形成低温内循环。如有需要,还可以与环境温度连通(通过后风门打开来实现)形成三箱法试验。
→ 特点
试件(待测品)静止不动,使用户避免了因试件移动带来的诸多不便。
→ 规格
·温度范围:-65~+200℃
·冷热冲击范围:-55~+125℃
·温度波动度:±1℃
·温度偏差:±3℃
·恢复时间:5分钟
·电源:380V、50Hz三相四线制
联系:上海宏泽试验设备有限公司,13816278924,ssf_1983@163.com
上海市周家嘴路1220号众和金融大厦2006室