FMEA数据怎么获得？

同意#16的说法~~

楼主一定要进行硬件FMEA分析吗？如果只是想分析故障对系统的影响，也可以换个角度，用功能FMEA分析，故障模式可以按照芯片的功能给出，例如某个功能丧失，或者错误等等，FPGA的功能有多少楼主肯定是知道的，而且FMEA分析一般都假设故障不会对上一层次造成物理上的严重损坏，这样在做功能FMEA分析时，除了性能上的故障，物理层面上的故障就可以不用考虑了，这样更简洁，同时也更能反映出FPGA功能失效对整个电路的影响，故障模式更好列出。至于故障出现概率那一定是经验说了算，建议和有经验的硬件、软件设计师交流一下，看看他们常碰到哪些功能失效，不常碰到哪些。
只是建议，欢迎指正！

[quote]原帖由[i]dmmnym[/i]于2009-5-511:32发表[url=pid=47435&ptid=6014][/url]
再问一下，一般的电子元器件，其故障模式的种类和频率从哪获得呢？[/quote]

MIL-HDBK-217f或者我国翻译过来的GJB299b
如果在这里也找不到的话，可能就需要自己估计或有条件的话做实验了

我六楼不是给出方法,并举了一个例子吗,贴子不仔细看…

叫回答的人都寒心那.

兄弟你说的东西太广泛了，FEMA通常叫失效分析，在我们公司就是通过各种手法分析样品或者元器件为什么失效了，无需数据。

多谢了！

再问一下，一般的电子元器件，其故障模式的种类和频率从哪获得呢？

我现在要做的是BIT（测试性）的东西，首先要选择测试点。而在此之前，要考虑芯片之间故障的传播，这时就要考虑该芯片不同的故障模式及出现概率。要完全进行FMEA分析显然是不可能的，因为我的整个系统要用到很多芯片，而各个芯片故障模式也不可能一一列举，相关数据也没法查阅各种资料，所以我想自己把主要的故障模式列举一下，但故障率就不知道怎么获得了。感觉这样做很不权威。但这一步工作做的不好，又会影响到以后的工作。
不知我把我的情况说清楚了没？希望大家给个建议~~~~~

楼上兄弟对论坛的资料不熟啊。这份资料的中英文版论坛都有。

MIL-HDBK-338B,这本书能不能提供一下呢?

FMEA是一个应用很广泛但是也比较有争议的方法,最主要的原因在于它主观性很强.对于有些元器件,其失效模式和概率是从数据库中找不到的,这时候需要分析人员根据自己的经验去填充.所以,楼主要的数据也许根本就是找不到的.

给一个电阻的例子：

[table=470][tr][td=1,1,74]　[/td][td=1,1,141]　[/td][td=1,1,72]　[/td][td=1,1,92]FMD91[/td][td=1,1,91]　[/td][/tr][tr][td]器件分类[/td][td]二级分类[/td][td]失效模式[/td][td]模式百分比[/td][td]故障原因[/td][/tr][tr][td]1[/td][td]合成电阻compoosition[/td][td=1,1,72]开路[/td][td=1,1,92]66[/td][td=1,1,91]　[/td][/tr][tr][td]　[/td][td]　[/td][td=1,1,72]短路[/td][td=1,1,92]3[/td][td=1,1,91]　[/td][/tr][tr][td]　[/td][td]　[/td][td=1,1,72]参数变化[/td][td=1,1,92]31[/td][td=1,1,91]　[/td][/tr][tr][td]2[/td][td]薄膜电阻Film[/td][td=1,1,72]开路[/td][td=1,1,92]59[/td][td=1,1,91]过压/过功率[/td][/tr][tr][td]　[/td][td]　[/td][td=1,1,72]短路[/td][td=1,1,92]5[/td][td=1,1,91]　[/td][/tr][tr][td]　[/td][td]　[/td][td=1,1,72]参数变化[/td][td=1,1,92]36[/td][td=1,1,91]　[/td][/tr][tr][td]3[/td][td]线绕电阻Wirewound[/td][td=1,1,72]开路[/td][td=1,1,92]65[/td][td=1,1,91]过压/过功率[/td][/tr][tr][td]　[/td][td]　[/td][td=1,1,72]短路[/td][td=1,1,92]9[/td][td=1,1,91]过压/过功率[/td][/tr][tr][td]　[/td][td]　[/td][td=1,1,72]参数变化[/td][td=1,1,92]26[/td][td=1,1,91]过压/过功率[/td][/tr][tr][td]4[/td][td]电阻网络[/td][td=1,1,72]开路[/td][td=1,1,92]92[/td][td=1,1,91]过压/过功率[/td][/tr][tr][td]　[/td][td]　[/td][td=1,1,72]短路[/td][td=1,1,92]8[/td][td=1,1,91]　[/td][/tr][tr][td]5[/td][td]可变电阻器Variable[/td][td=1,1,72]开路[/td][td=1,1,92]53[/td][td=1,1,91]　[/td][/tr][tr][td]　[/td][td]　[/td][td=1,1,72]短路[/td][td=1,1,92]7[/td][td=1,1,91]　[/td][/tr][tr][td]　[/td][td]　[/td][td=1,1,72]输出不定[/td][td=1,1,92]40[/td][td=1,1,91]　[/td][/tr][tr][td]　[/td][td]热敏电阻[/td][td=1,1,72]开路[/td][td=1,1,92]63[/td][td=1,1,91]过功率[/td][/tr][tr][td]　[/td][td]　[/td][td=1,1,72]短路[/td][td=1,1,92]15[/td][td=1,1,91]器件质量问题[/td][/tr][tr][td]　[/td][td]　[/td][td=1,1,72]参数变化[/td][td=1,1,92]22[/td][td=1,1,91]器件质量问题[/td][/tr][tr][td][/td][td][/td][td][/td][td][/td][td][/td][/tr][tr][td][/td][td][/td][td][/td][td][/td][td][/td][/tr][tr][td=2,1][/td][td][/td][td][/td][td][/td][/tr][/table]MIL-hdbk-338BPAGE439
ReliabilityAnalysisCenter,”FailureMode/MechanismDistributions”(FMD-91)

[table=327][tr][td=1,1,161]　[/td][td=1,1,72]　[/td][td=1,1,94]GJB299B[/td][/tr][tr][td]二级分类[/td][td]失效模式[/td][td]模式百分比[/td][/tr][tr][td]合成电阻compoosition[/td][td=1,1,72]开路[/td][td=1,1,94]　[/td][/tr][tr][td]　[/td][td=1,1,72]短路[/td][td=1,1,94]　[/td][/tr][tr][td]　[/td][td=1,1,72]参数变化[/td][td=1,1,94]　[/td][/tr][tr][td]金属膜电阻P≤2W[/td][td=1,1,72]开路[/td][td=1,1,94]91.9[/td][/tr][tr][td]P96[/td][td=1,1,72]参数变化[/td][td=1,1,94]8.1[/td][/tr][tr][td]碳膜电阻P≤2W[/td][td=1,1,72]开路[/td][td=1,1,94]83.4[/td][/tr][tr][td]P99[/td][td=1,1,72]参数变化[/td][td=1,1,94]16.6[/td][/tr][tr][td]线绕电阻Wirewound[/td][td=1,1,72]　[/td][td=1,1,94]　[/td][/tr][tr][td]功率绕线电阻[/td][td=1,1,72]开路[/td][td=1,1,94]97.1[/td][/tr][tr][td]P108[/td][td=1,1,72]参数变化[/td][td=1,1,94]2.9[/td][/tr][tr][td]精密绕线电阻[/td][td=1,1,72]开路[/td][td=1,1,94]97[/td][/tr][tr][td]p105[/td][td=1,1,72]参数变化[/td][td=1,1,94]3[/td][/tr][tr][td]普通线绕电位器[/td][td=1,1,72]开路[/td][td=1,1,94]48.6[/td][/tr][tr][td]P115[/td][td=1,1,72]短路[/td][td=1,1,94]12.1[/td][/tr][tr][td]　[/td][td=1,1,72]接触不良[/td][td=1,1,94]39.3[/td][/tr][tr][td]微调线绕电位器[/td][td=1,1,72]开路[/td][td=1,1,94]10[/td][/tr][tr][td]P119[/td][td=1,1,72]短路[/td][td=1,1,94]10[/td][/tr][tr][td]　[/td][td=1,1,72]接触不良[/td][td=1,1,94]80[/td][/tr][tr][td]有机实芯电位器[/td][td=1,1,72]开路[/td][td=1,1,94]60.6[/td][/tr][tr][td]P125[/td][td=1,1,72]短路[/td][td=1,1,94]5.6[/td][/tr][tr][td]　[/td][td=1,1,72]接触不良[/td][td=1,1,94]33.8[/td][/tr][tr][td]合成碳膜电位器[/td][td=1,1,72]开路[/td][td=1,1,94]34.2[/td][/tr][tr][td]P128[/td][td=1,1,72]短路[/td][td=1,1,94]8.7[/td][/tr][tr][td]　[/td][td=1,1,72]接触不良[/td][td=1,1,94]40[/td][/tr][tr][td]　[/td][td=1,1,72]参数漂移[/td][td=1,1,94]40[/td][/tr][/table]
[align=left][size=12pt][b]MILITARYHANDBOOKELECTRONICRELIABILITYDESIGNHANDBOOK[/b][size=12pt][/align]

MIL-HDBK-338B
P448

[align=left][font=Symbol][size=12pt]a[/font][size=12pt]ij[font=Symbol][size=12pt]
[/font][size=12pt]=failuremodefrequencyratioofitemiforthefailuremodej(seeTable[size=12pt]7.8-1foranexample),i.e.,theratiooffailuresofthetypebeingconsideredto[size=12pt]allfailuresoftheitem.[/align]
[align=left][size=12pt][/align]
[align=left][font=Symbol][size=12pt]b[/font][size=12pt]ij
[font=Symbol][size=12pt]
[/font][size=12pt]=lossprobabilityofitemiforfailuremodej(i.e.,theprobabilityofsystem[size=12pt]failureiftheitemfails).AsuggestedscaleisCertainLoss=1.00,Probable[size=12pt]Lossrangesfrom0.1to1.0,PossibleLossrangesfrom0to0.10,NoEffect-[size=12pt]0.0[/align]
[align=left][size=12pt][/align]
[align=left][font=Symbol][size=12pt]l[/font][size=12pt]i[font=Symbol][size=12pt][/font][size=12pt]=failurerateofitemi
[/align]

[size=12pt]
[align=left][size=12pt](CR)ij=systemfailurerateduetoitemi’sfailinginitsmodej[font=Symbol][size=10pt][/font][/align]

CR=[size=12pt]failuremodefrequencyratio[font=宋体][size=12pt]（[/font][font=Symbol][size=12pt]a[/font][size=12pt]ij[font=宋体][size=12pt]）[/font][size=12pt]*lossprobability[font=宋体][size=12pt]（[/font][font=Symbol][size=12pt]b[/font][size=12pt]ij
[font=宋体][size=12pt]）[/font][size=12pt]*failurerate[font=宋体][size=12pt]（[/font][font=Symbol][size=12pt]l[/font][size=12pt]i[font=宋体][size=12pt]）[/font]

[font=宋体]另也可参考：[/font]MIL_STD_1629A
Page31~Page34

[size=3]以上信息请参考。如果仔细找一下的话，应该可以解决你的问题了。

不同公司，FMEA也不同，这个要和你们内部多交流

先把故障和故障模式搞清楚，这两个概念是不同的。通俗点讲，故障是指系统或产品不能正常工作的状态，而故障模式是产生故障或失效的因素或直接原因，有些故障模式本身就是故障。

一般的电子元器件，都有相关的资料可以查到其故障模式的种类和频率，常做这方面工作的人都知道。
至于你说的可编程逻辑阵列，我没有见过，不知道有没有。如果真的没有的话，那就得从实践当中统计了。
故障模式的种类和数量以及相应的频率（数），其实都是从大量的数据中统计得来的，通常由官方或官方指定的机构发布。
如果你要统计的话，需要和生产、研发、用户等各方面的人共同结合起来探讨。不过先提醒你一下，这是一个很大的工程，而且你统计出来的结果也不具有权威性，但是自己做出来的东西最起码自己放心，不是吗。

不过FMEA好像没你讲的这么复杂吧，整个S\O\D就好了，这些都得根据你自己的情况来确定的。其实我觉得还应该增加一个改进困难度，综合考虑各技术、成本和推进难度，这个其实很重要的，尤其对现实操作来说。

这个非你自己无以回答