Arrhenius模型在ALT中的应用案例

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[quote][url=pid=47700&ptid=6057]txz06 发表于 2009-5-7 20:01[/url]
案例2
功率发光二极管的寿命预测
案例3
[/quote]

虽然下载不了 但还是很感谢

Thanks. share it

[quote][url=pid=47760&ptid=6057]admin 发表于 2009-5-8 11:18[/url]
问一下vince,第三页中公式：E=bk/lge为什么会多除一个lge

而你计算的数值：=7455.422*0.8617*10^-5=0.6424 …[/quote]

你好，看到你文末留的连接，点击去已经没有了，这篇文章你那还有保存么？？可以发我么？？

学习了，很需要这方面的资料，谢谢~~~

谢谢

很好的帖子和附件，下载不了啊

非常需要，但是权限不够 谢谢了

非常需要，但是权限不够 谢谢了

正好用上，谢谢

權限不夠嗚嗚…抓不到檔 也被扣一金幣..>”<...感謝大大的分享

非常感谢楼主和后面无私分享的人，真心好资料。

这么好的东西没权限啊

好资料，谢楼主分享:)

学习学习！

搜索关于激活能的文章，一路找到了这里。非常珍贵的有用的讨论…

好资料，谢楼主分享

顶一哈攒一下权限

这个好，我下载不了啊

thankssomuch

[i=s]本帖最后由小鹰击长空于2016-1-1720:16编辑[/i]

好资料建议多多分享，技术不是神秘莫测的东西。

楼主降低点权限吧。:lol:lol:lol

阿伦纽斯和阿斯有什么区别？

只有特定用户才能下载？

怎么搞的啊？:Q

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:(怎么又有权限限制啊？

怎么又有权限啊

没有权限？攒积分不容易啊。:L

还是不能下载愁死人了有没有好心的人给发一个qq邮箱379381735

很想看，但是权限太低！努力回帖提高等级ing:'(

这个贴子看不到

不能下载了请问各位大侠如何才能下载

正好需要的太感谢了不懂看后再问楼主

哈，楼主写的那个例子很不错

没权限看不了

权限不够，好文看不了了。

很想看看！阅读权限太低！悲剧啦

:Q:Q:Qihopeicanseethesedocuments…:(:(

权限太低了。

多谢指点！

你的这些文章挺好的，我也在研究和实践这方面的内容，能否把相关附件给我看下。
主题词：加速寿命、Arrhenius

另外，我有在论坛上发出《系统级电子控制器ALT方案设计》，请指教，谢谢。

请问什么样的用户可以下载？

[quote]俱兴发表于2009-7-1511:22[url=pid=53661&ptid=6057][/url]
都说用阿伦尼斯模型做加速寿命试验没技术含量，其实我觉得不然。
模型谁都会用，关键是敏感参数的选取，失…[/quote]

深有同感啊！试验做了N久产品部死，得不到任何参数，很郁闷

唉，正想看看，权限设置的太高了啊。

55,等到猴年马月啊

同感，期待早日获得权限，努力吧！

权限太大了……

权限太大。我要努力。

VINCE大大，计算有点问题。。。

啥时候权限才能变成30

权限太高了

权限太高了，新人无法看

[b]回复[url=pid=88488&ptid=6057]70#[/url][i]ibmmaomao[/i][/b]
呵呵,借花獻佛!!
各组别权限查看：[url]http://www.kekaoxing.com/club/memcp.php?action=usergroups[/url]
查看我的积分：[url]http://www.kekaoxing.com/club/memcp.php[/url]
增加积分的办法：[url]http://www.kekaoxing.com/club/thread-1005-1-1.html[/url]

[b]回复[url=pid=53661&ptid=6057]31#[/url][i]俱兴[/i][/b]

agreeyrpoint

正在学习,reading……………

正在学习

正在学习

都不知道无私是怎么一回事吗？、？？？？？

[quote]Vince你好，
你没事读读《AnalysisofAcceleratedLifeTestData-PartITheArrheniusModelandGra…
txz06发表于2009-5-820:46[url=pid=47814&ptid=6057][/url][/quote]
十分感謝樓主的分享。小弟正在研究針對某種特定失效的加速模型。可否將這份資料電郵給在下？
我的電郵是：[email]rocketeer@usa.net[/email]
十分多謝！

由於小弟權限太低無法見到內容
還是謝謝樓主的提供
阿氏模式最基礎的定義是在電子漂流速度
有空可以看一下物理上的定義
大家一定可以更了解

好文，感谢分享

十分感謝大大的分享！

现在有ADT试验了，加速退化试验
ALT需要考虑：加速模型的选择；Ea。

权限太高，交流起来十分不便！

这权限也都忒高了点

楼主，您好!能否将”功率发光二极管的寿命预测”和”阿伦尼斯模型研究”发我邮箱？[email]sheyingli@126.com[/email]
十分感谢！

。。。下不了。。。
LZ。。跪求降低权限。

哪里可以查”阅读权限”?请指教

只有特定用户可以下载本论坛的附件—whywhywhy?Howtodo?Plsteachme.

bucuo

bucuo

Iwantthisinformation

权限不够,努力积分,来日再拜读楼主的大作.

Verygood,butIcannotdownlaod.

thanks

總有一天我也可以看看發的是啥

大家讨论的很热烈，氛围很好，很受学习!

好东西啊，可惜我权限不够！

好东西啊，可惜我权限不够！

可悲啊，权限不够！！！

可悲啊，权限不够！！！

高兴看到这些很有用的资料，可惜积分不够不能下载:'(

顶起来

谢谢分享，7楼的LED加速比较需要感谢！

谢谢分享

:):):)

谢谢分享！！！！！！！

阅读权限不够，先收藏，以后再看。

权限不够标记一下来日再看

好东西啊，我怎么下载不了啊！

下不了哟，努力努力

最近做MTBF预计分析，需计算失效率，要使用Arrhenius模型和器相关资料
不过好可惜呀，权限不够，无法下载参考了，
楼主能发给我呀，E-MAIL:[email]ZCL0926@126.COM[/email]
谢谢

资历不够就是菜鸟，慢慢努力吧~

[b]回复[url=pid=47701&ptid=6057]3#[/url][i]txz06[/i][/b]

没有权限，急需这些文章，阿列纽思，可否发我一份，谢谢了
[email]luochengmiao0103@163.com[/email]

这个模型好像有过啊

向30迈步吧，等一段时间才能拜读楼主的大作了

多谢指点！很实用啊

太菜了看不了感謝你!

想下载模型的资料，怎么下不了啊，说没权限，把权限降低吧:(

想看看啊，怎么下不了啊

楼主不厚道！为什么权限这么高！难道混论坛时间短就代表水平差吗？！就不能加入讨论吗？！

先收藏吧，等以后积分够了再看

最近正在研究各种不同的加速模式，可惜看不到楼主的资料。

哎…居然不知道这样的文章都可以当论文发表，没劲

多好的帖子，就是不能看啊

对楼上的说法深有同感，敏感参数没选对，后面的事情就麻烦大了，有时候根本没时间重做了

都说用阿伦尼斯模型做加速寿命试验没技术含量，其实我觉得不然。
模型谁都会用，关键是敏感参数的选取，失效机理的判定。现在大家用的方法都是前辈们总结出来的，如果给你一个新产品，你怎么选敏感参数，怎么判断加速失效是在同一个失效机理下发生的，怎么选取试验条件和加速应力。这些都不是拍脑袋或者看看资料就能知道的。做过加寿命试验研究的可能都知道，最头疼的就是几个月的实验做下来，得到的数据不收敛，得不到失效激活能。这时候哭的心都有！难道跟老大说试验条件选错了，再来半年？！我们国家这种急功近利的形势下，改改数据了，选选理想的数据点了。技术含量都体现在这了！

超级版主：您好！我的权限很低。我很想学会发光二极管寿命的估算，请您把“功率发光二极管的寿命预测.pdf”一文发给我好吗（最好是中文的）？谢谢您！再谢谢！！
e-mail:cesx4@21cn.com

[url]http://www.kekaoxing.com/club/thread-2648-1-1.html[/url]

我所在的用户组无法下载或查看附件，怎样才能取得阅读权限？

怎样才可下载附件：AnalysisofAcceleratedLifeTestData-PartITheArrheniusModelandGraphicalMethods，正在做MOS管的ALT试验，想看一看该文章

怎样才可下载附件啊？很急,很需要,特别是”功率发光二极管的寿命预测”和”阿伦尼斯模型研究”。谢谢楼主！能否把附件发到我邮箱中，[email]cesx4@21cn.com[/email]。谢谢！再次谢谢！

很遗憾，我的权限太低看不了，不过这样的好资料谁都会唾延三尺的。

能否发个我一份
AnalysisofAcceleratedLifeTestData-PartITheArrheniusModelandGraphicalMethods，正在做一个相关的课题，急需一些加速寿命方面资料。
万分感谢！
邮件：[email]chenzt_2002@163.com[/email]

好好爱好

多谢指点！

很实用啊，哈哈！

可以发给我看看么，最近在研究加速退化试验，正好对Arrhenius这块不太懂…

Arrhenius还是相当牛的。
诺贝尔化学奖得主，其在物理方面造诣也是相当了不得。
—————–
附：2张Arrhenius的照片。

步进应力加速寿命试验的方法
———————————
这就是现在特别流行的HALT。
HALT的优点在于，可以迅速定性找出failuremode,namely,theweaknessofsystemorcomponent.
———————————-
资料的话，网上很多的，本论坛上也有很多。
———————————-

请教：茆诗松在《加速寿命试验》一书中提到了步进应力加速寿命试验的方法，但是现在很多产品要做加速退化试验，那么步进应力的加速退化试验的方法是怎样的呢，计算时是如何折算的，如有熟悉在这方面的，不吝赐教！（或推荐这方面的研究资料也行），先行谢过！

高加速应力试验应该采用什么模型呢

Arrhenius的文章，要读懂的话，实在太难

这些学问太多了,学无止境!拜读好好研究一下!

多谢txz兄。。得好好学习一下。

非常感谢txz06大侠的分享，先读，遇到问题向你请教。:handshake

Vince你好，
你没事读读《AnalysisofAcceleratedLifeTestData-PartITheArrheniusModelandGraphicalMethods》这篇论文，我估计你肯定会如户灌顶。
经典就是经典！
—————–
这篇文章，我估计你要读几天，才能体会其中的一些意境。
—————-
金老大，你有时间也读一下。
—————-
附：本文章，只对阅读权限高于50的可靠性论坛资深会员开放。

国内的文章，一般起的作用是科普作用。
但IEEE中关于Arrhenius的文章，要读懂的话，实在太难。
————-
WayneNelosn在1970年和1971年连续发表的那3篇文章，要搞明白的话，估计要1个月。
————-

呵呵,之前也是抄的一本书上的公式,看来有点问题,不过计算的时候没有按公式去算,所以有点错误,多谢.呵呵.我修改一下,以免给别人带来误解.

问一下vince,第三页中公式：E=bk/lge为什么会多除一个lge

而你计算的数值：=7455.422*0.8617*10^-5=0.642433714

如果多除了lge=0.4343EA结果是：1.479239497

从第一页公式中说明：E=bk/lge(E:Systemsactivationenergy)
系统激活能？？？？

关于EA，新转了一篇文章，大家有兴趣可以看一下：[url]http://www.kekaoxing.com/basic/glossary/200905/Activation-Energy.html[/url]

阿，这样就能发表了？　呵呵看来我当时应该把这个文章修涩一下也去发表一下啊。呵呵
看来一下,感觉[url=http://www.kekaoxing.com/club/thread-6057-1-1.html][b]Arrhenius模型[/b][/url]这样论文都没有自己的太多的东西,都是书籍上摘录修涩一下而已.
发个我06年写的关于led加速寿命测试的。跟上面一样，也是没啥内涵，呵呵

[[i]本帖最后由vince1981于2009-5-817:09编辑[/i]]

激活能的意义:激活能是晶体中晶格点阵上的原子运动到另一点阵或间隙位置时所需的能量,是反映温度应力对产品寿命影响的一种指标。对产品而言,它从正常的未失效状态向失效状态转换的过程中存在着势垒,这就是激活能。激活能越小,失效的物理过程越容易进行激活能越大,加速系数越大,越容易被加速而失效。
激活能是不随温度变化的常数。也就是说,对应于某失效机理,激活能是不随温度变化的常数,这就保证了加速寿命试验的可行性。事实上,当温度大于500K时,激活能不再为常数。对于电子产品来说,温度应力一般不会500K超过。
激活能会随产品批次的不同和同批不同类的产品而不同,此外,同一产品的不同失效模式也会使激活能发生变化。因此,使用已公布的数值并不一定合适。

Case7
ACTIVATIONENERGIESANDTHEARRHENIUS
ThispaperexaminesthecurrentuseoftheArrheniusequationandtheactivationenergiesassociatedwith
integratedcircuits.AshortintroductiontotheArrheniusequationisgivenanditisshownhowactivation
energiesmaybecomputedfromexperimentaldata.
Thepapernextaddressesthefollowingbasicquestion:isitreasonabletoextrapolatefrom
high-temperaturelaboratorylife-testsdowntouseconditionsusingthe.Arrheniusequation?Thepaper
showsthattheanswertothisquestioningeneralmustbeanemphaticno.Itisnotthevalidityofthe
Arrheniusequationassuchthatisquestioned,butitsindiscriminateusebyreliabilitypractitionersacross
theelectronicsindustry.
Thisisnotascientificpaper,andno‘proofs’aregiven.Thediscussionisbasedon‘typical’integrated
circuitsusingpublisheddataonthetemperaturedependenceofthehazardrateofsuchcircuits.Thepaper
servesasawarningagainstthinkingthat‘wellestablishedpractices’arenecessarilyscientificallysound.

Case6
ARRHENIUSANDTHETEMPERATUREDEPENDENCE
Thispaperexaminesthetemperaturedependenceofcomponenthazardrateforthecasesoflog-normal
andWeibullfailure-timedistributionsandshowsthatthecommonbeliefthatthetemperaturevariation
ofcomponentfailureratefollowstheArrheniusrulecanbesubstantiallyinerror.Althoughmostfailures
inpresent-dayequipmentarenotduetodefectivecomponents,thepaperalsoexaminesthetemperature
dependenceofequipmentrateofoccurrenceoffailurehavingapower-lawornegativeexponential
variationwithtimeforthetemperaturerangewherethemajorityoffailuresareduetorateprocesses
obeyingtheArrheniusequation.TheconsequencesofaGaussiandistributionoffailure-mechanism
activationenergyinadevicepopulationarealsoconsidered.
Althoughthetemperaturedependenceoffailureratecanbeveryhigh,inmostsituationsitismuch
lessthanthatoftheArrheniusaccelerationfactor.Itisveryimprobablethatthetemperaturedependence
ofcomponentfailureratecanbemeaningfullymodelledforreliabilitypredictionpurposesor
forthepurposeofoptimizingthermaldesigncomponentlayout.
Attentionisdrawntotheinvalidityofdeterminingthefailureactivationenergyfromtheaverage
failureratesinacceleratedhigh-temperaturetime-terminatedlifetests

案例4
阿列纽斯方程与电感镇流器的耐久性测试
案例5
基于Arrhenius模型快速评价功率VDMOS可靠性

[[i]本帖最后由txz06于2009-5-720:05编辑[/i]]

案例2
功率发光二极管的寿命预测
案例3
阿列尼乌斯模型在红外微型金属杜瓦的真空寿命试验研究中的应用