可靠度问题点?

厉害，感谢了，

[quote]原帖由[i]fuckit[/i]于2009-7-618:00发表[url=pid=52915&ptid=6571][/url]
我来尝试回答,欢迎大家纠正和补充::lol
1.理论上讲(在指数分布下),试验样品数量和试验时间是线性关系,怎样选择需要根据产品的成本、试验时间的限制来trade-off。如果条件允许，建议多选样本数量。置信区间一般…[/quote]

高人。

学习了。

我来尝试回答,欢迎大家纠正和补充::lol
1.理论上讲(在指数分布下),试验样品数量和试验时间是线性关系,怎样选择需要根据产品的成本、试验时间的限制来trade-off。如果条件允许，建议多选样本数量。置信区间一般选择60%或者90%，如果你对产品的信心较小，选择60%的置信度。或者你可以先验证60%的置信度，然后继续试验去验证90%的置信度。
2.0和1失效的差异在于会对MTBF估计结果造成差异，差异在于chi-square分布的自由度一个是2一个是4.
3.个人认为没有什么准确不准确的问题，因为很多大前提都是假设的。
4.这个是根据经验值来的，一般电子产品都选0.6~0.7.如果你想获取Ea的准确值，可以通过分析不同加速应力条件的失效数据来获得。
5.温度对大部分器件都有加速作用，比较普遍。而其他的模型比较针对特别的失效模式。
6.不同模型之间的差异建议参考JESDJEP122
7.设计阶段，确定产品的可靠性指标、usageprofile、environmentalprofile，从这些指标展开产品的可靠性活动和验证计划。
8.从可靠性指标展开，将产品的可靠性分解为具体的需求，比如零件选型、降额，甚至是对产品的设计方案等等，给RD提出建议。

我也想问这些问题，楼主总结的不错。

希望各位老大帮忙下，我们是LCM行业的

O天那，这么多问题…

坐沙发等高人来回答。:lol:lol:lol

变板凳了…

楼主要看看书啊，这些问题如果不熟悉自己公司的产品，很难具体回答。但真正做过试验可靠性的同志就会心里有底。其实这个就是一个MTBF的可靠性验证试验罢了。:lol