半导体老化筛选设备

半导体老化筛选设备

不仅做动态老化，还具备DUT（受测器件：Device Under Test）的输出信号监视功能。用这个功能对DUT的动作进行监视，防止筛选漏网，主要试验对象为SDRAM，SRAM等内存类，CPU，ASIC，系统LSI等逻辑装置，也对应各种MOS形的IC。

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深圳市龙岗区平湖镇