作 者： 本社 编 出 版 社： 哈尔滨工业大学出版社
- 出版时间： 2002-12-1
- 字 数：
- 版 次： 1
- 页 数： 7
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- I S B N ： 150337119
- 包 装： 平装
定价：￥12.00
内容简介
本标准是根据GB/T 1772-1979《电子元器件失效率试验方法》、GB/T 5080.1-1986《设备可靠性试验 总要求》、GB/T 15510-1995《控制用电磁继电器可靠性试验通则》的有关技术要求编制的。
本标准代替JB/T 56015-1992。
本标准与JB/T 56015-1992相比主要变化如下：删去了链式试验线路，采用微机自动监测装置作为继电器可靠性试验装置；失效判据增加了接通触点的接触压降和分断触点间的电压的大小作为试品失效的判据；删了早期失效的内容。
目录
前言
1 范围
2 规范性引用文件
3 术语和定义、符号
3.1 术语和定义
3.2 符号
4 可靠性指标要求
5 试验方法
5.1 试验条件
5.2 试品的抽取
5.3 试品的检测
5.4 失效判据
5.5 试验装置
6 可靠性验证方案及试验程序
6.1 可靠性验证试验方案
6.2 可靠性验证试验的程序
7 试验记录与试验报告
7.1 试验记录
7.2 试验报告
附录A （资料性附录）推荐的继电器可靠性试验装置框图
图A.1 推荐的继电器可靠性试验装置框图
表1 失效率等级名称、符号和最大失效率
表2 定级试验和升级试验方案
表3 维持试验方案
表4 推荐的定级试验的试验方案
表5 推荐的维持试验的试验方案
