大家来谈谈电子产品在低气压时失效模式？以及如何作低气压试验？我这里有一个相关标准，大家来聊聊！
[url=https://www.kekaoxing.com/d/uploads/standard/GJB150/g150-02.rar]GJB150.2-86军用设备环境试验方法低气压(高度)试验.pdf[/url]
大家来谈谈电子产品在低气压时失效模式？以及如何作低气压试验？
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气压变低，一方面会使器件周围空气的散热能力降低，另一方面介质的介电强度也会下降，会一起电晕放电而损坏器件。
一般来说海拔可以换算成温度，海拔越高，温度越低。但是同时器件温升又变高了。失效模式确实不好判断
个人认为，失效模式：由于低压导致空气散热不畅，导致器件温度过高。
这里提一个疑问：低气压试验是否可以通过温度/海拔换算成温度试验？