电子元器件失效分析与检测
失效分析在产品的可靠性质量保证和提高中发挥着重要作用，在产品的研发、生产、使用中都需要引入失效分析工作。CTI失效分析实验室作为CTI一站式服务的重要组成部分，拥有一支经验丰富、技术精湛的服务团队，各种先进的检测、分析仪器，同时依托于CTI强大的多学科技术网络，可以为客户提供高效、准确、公正的检测、分析服务。
电子元器件检测的意义：
元器件厂：获得改进产品设计和工艺的依据
整机厂：获得索赔、改变元器件供货商、改进电路设计、改进电路板制造工艺、提高测试技术、设计保护电路的依据
整机用户：获得改进操作环境和操作规程的依据,提高产品成品率和可靠性，树立企业形象，提高产品竞争力
失效分析技术的延伸应用
进货分析的作用：选择优质的供货渠道，防止假冒伪劣元器件进入整机生产线
良品分析的作用：学习先进技术的捷径
电子元器件的工艺适用性评价：
- 回流敏感度测试依据标准J-STD 020包括温湿度处理以及回流焊
- 可焊性测试
- 金属层耐溶解性试验
- 耐焊接热试验
电子元器件的常规检测：
- 开封
- 取晶粒
- 芯片层次去除
- 去金凸块
- 染色
- 高解析度显微拍照
- BGA(PCB)&IC电路提图服务
- 扫描电镜检查
- 高/低阶制成定点横截面切割
- EMMILC 液晶热点侦测
- OBIRCH 应用
- 静电放电（ESD）测试
- 探针应用
- LCR应用
- I-V曲线量测
- 激光切割
- 引线键合强度
- 芯片粘结强度
- 背面研磨
- TEM
- EELS
- AFM
- C-AFM
- SIMS
- TOF-SIM
- AES
- XPS
- XRD
- STEM
- FIB-线路修补
- X射线透视检查
- 超声波扫描检查（C-SAM）
联系：李小姐,0755-33684133,camille.li@cti-cert.com
深圳市宝安区70区鸿威工业园C栋
