有人做过二极管芯片的可靠性试验吗? 可靠性技术 可靠性试验 09年11月18日 编辑 lily1106 取消关注 关注 私信 我们家的肖特基芯片送出去封装良率特别低,60%~70%,漏电大400UA多啊! 解剖出来,芯片没有明显的击穿,裂痕,缺角等现象。 那是芯片本身的原因吗?于是我对芯片做HTSL试验,直接放100个CP的芯片在150度的烘箱里,3天后良率是4%,还是漏电,到200uA了。并且芯片表面发黄有点氧化。听说要通N2,可问了一下,一般人家的HTSL试验也没有通N2的,那怎么对芯片做HTSL对呢? 以前听说先对芯片做COB再去做试验,可对我们来说有点麻烦,因为二极管很少去做芯片级别的试验。 给TA打赏 共{{data.count}}人 人已打赏
闲情 lv4lv4 10年7月8日 [quote]你还没有找到根本原因吧,需要再深入看看有没有针孔效应.或是芯片本身工艺缺陷.我去过一个封装厂,工艺问… fanweipin发表于2009-11-1809:52[url=pid=64292&ptid=7689][/url][/quote] 同意,看看钝化工艺有无问题?
fanweipin lv5lv5 09年11月18日 :lol你还没有找到根本原因吧,需要再深入看看有没有针孔效应.或是芯片本身工艺缺陷.我去过一个封装厂,工艺问题占主要.还是把关注点放在制程工艺上吧.
[quote]你还没有找到根本原因吧,需要再深入看看有没有针孔效应.或是芯片本身工艺缺陷.我去过一个封装厂,工艺问…
fanweipin发表于2009-11-1809:52[url=pid=64292&ptid=7689][/url][/quote]
同意,看看钝化工艺有无问题?
:lol你还没有找到根本原因吧,需要再深入看看有没有针孔效应.或是芯片本身工艺缺陷.我去过一个封装厂,工艺问题占主要.还是把关注点放在制程工艺上吧.