有人做过二极管芯片的可靠性试验吗?

我们家的肖特基芯片送出去封装良率特别低,60%~70%,漏电大400UA多啊!
解剖出来,芯片没有明显的击穿,裂痕,缺角等现象。
那是芯片本身的原因吗?于是我对芯片做HTSL试验,直接放100个CP的芯片在150度的烘箱里,3天后良率是4%,还是漏电,到200uA了。并且芯片表面发黄有点氧化。听说要通N2,可问了一下,一般人家的HTSL试验也没有通N2的,那怎么对芯片做HTSL对呢?
以前听说先对芯片做COB再去做试验,可对我们来说有点麻烦,因为二极管很少去做芯片级别的试验。

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可靠性技术新手提问

可靠性预计求助!

2009-11-17 16:51:45

可靠性技术可靠性试验

关于硅片级(晶圆级)可靠性测试 设备

2009-11-18 13:45:11

3 条回复 A文章作者 M管理员
  1. 闲情

    [quote]你还没有找到根本原因吧,需要再深入看看有没有针孔效应.或是芯片本身工艺缺陷.我去过一个封装厂,工艺问…
    fanweipin发表于2009-11-1809:52[url=pid=64292&ptid=7689][/url][/quote]

    同意,看看钝化工艺有无问题?

  2. fanweipin

    :lol你还没有找到根本原因吧,需要再深入看看有没有针孔效应.或是芯片本身工艺缺陷.我去过一个封装厂,工艺问题占主要.还是把关注点放在制程工艺上吧.

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