求助/讨论:关于Burn-in的时间(早期失效期)的确定? 可靠性技术 新手提问 09年12月9日 编辑 cipher121 取消关注 关注 私信 看到论坛里许多讨论burn-in的帖子,大家都在讨论如何缩短burn-in的时间,试验条件等。 关于burn-in的时间我有几个疑问,请大家指点。 首先,请大侠明确一下,burn-in的目的是剔除早期失效,即使产品出厂即步入偶然失效期? 然后问题如下: 一个产品(假设为电子产品),你如何确定该产品的早期失效期? 大家讨论中都是用温度加速,可否加入湿度? 本人新手,有写的不对的地方请大家指出 给TA打赏 共{{data.count}}人 人已打赏
tangtangxj lv3lv3 17年3月30日 [quote][url=pid=66662&ptid=7847]fuckit发表于2009-12-1016:51[/url] 看看这篇文章对你是否有帮助: http://www.reliasoft.com/newsletter/v7i2/burn_in.htm [/quote] 多谢,受教了呢
dalan lv3lv3 16年8月17日 首先要看burnin类型,是高温老化,温度循环,还是hasa,是做电子产品,还是结构件去应力,差别还是挺大的。对于一般电子产品,为了发现加工问题如虚汗10几个温循就不多了,可以看下相关标准。
nantanglucky lv3lv3 16年8月14日 [quote][url=pid=66688&ptid=7847]ragi发表于2009-12-1020:40[/url] 回复1#cipher121 你可以拿一定数量老化的样品来做分析,当然是越大越好,然后这些数据用weibull++分…[/quote] 早期失效的时间一般为3个月到1年,怎么确定自己的产品的早期失效时间呢?
nantanglucky lv3lv3 16年8月14日 [quote][url=pid=69280&ptid=7847]ragi发表于2010-1-915:47[/url] 有邮件吗?我可以给些案例给你参考[/quote] 正在研究中,求案例:$
filtratedgun lv4lv4 10年2月24日 1.其实目前通常做的老化试验的前提是阿伦尼乌斯方程是对的,或者失效机理与稳态温度有关,与温度无关的失效机理用老化没有用。 2.对许多失效,老化并不能暴露早期失效,或者老化暴露的失效大部分不是器件本身的失效。 3.Motorola已经指出,160hr的老化已经足够。
justinbk lv4lv4 10年2月8日 [b]回复[url=pid=66583&ptid=7847]1#[/url][i]cipher121[/i][/b] 老化时间的确定主要基于两个因素,希望能达到的ERI、YRI,能承受的cost(包括费用和时间),ERI和YRI代表老化筛出率,ERI、YRI越低,说明老化效果越好,当然费用和时间是个权衡因素,不可能无限制的延长时间,但老化过程的方式和应力也是关键因素,绝对不是随便确定采用何种方式进行,这个就是个复杂问题,不应该是拍脑袋决定的。
ragi lv4lv4 10年1月9日 [quote]好想看ragi的文章啊,我正为BURNIN时间的确定头痛呢,能show一下具体的操作方法吗?万分感激。 aaa1030发表于2010-1-910:38[url=pid=69266&ptid=7847][/url][/quote] 有邮件吗?我可以给些案例给你参考
paulyu lv4lv4 10年1月9日 burnin是产品先期是否存在不良的筛选方法,除前面有位兄弟提到的常温下烧机外,可以考虑采用提升温度或者工作电流等方法评估产品可能失效的时间。具体的估算方法在论坛里面admin有发过相关的帖子。
cipher121A lv4lv4 09年12月11日 [b]回复[url=pid=66662&ptid=7847]5#[/url][i]fuckit[/i][/b] 今天看了你给的文章,很有帮助,谢谢了 不过准确的失效数据比较难找到
ragi lv4lv4 09年12月10日 [b]回复[url=pid=66583&ptid=7847]1#[/url][i]cipher121[/i][/b] 你可以拿一定数量老化的样品来做分析,当然是越大越好,然后这些数据用weibull++分析,通过浴缸曲线就可以推算出早夭期的一个时间,前提是数据一定要真实,如果你的老化试验能够加入湿度当然更好,不过这个加速因子又不一样了,目前为止没有这样做过,论坛里应该有人可以帮助你
fuckit lv4lv4 09年12月10日 看看这篇文章对你是否有帮助: [url]http://www.reliasoft.com/newsletter/v7i2/burn_in.htm[/url] 理论的东西看起来挺好,具体实施起来困难多了
:victory::victory::victory::victory::victory::victory:
关注,学习!
关注学习
谢谢分享
:lol:lol
谢谢分享!
太受用了,谢谢,正在寻找这个东西
学习
领教了
学习
[quote][url=pid=66662&ptid=7847]fuckit发表于2009-12-1016:51[/url]
看看这篇文章对你是否有帮助:
http://www.reliasoft.com/newsletter/v7i2/burn_in.htm
[/quote]
多谢,受教了呢
首先要看burnin类型,是高温老化,温度循环,还是hasa,是做电子产品,还是结构件去应力,差别还是挺大的。对于一般电子产品,为了发现加工问题如虚汗10几个温循就不多了,可以看下相关标准。
[quote][url=pid=66688&ptid=7847]ragi发表于2009-12-1020:40[/url]
回复1#cipher121
你可以拿一定数量老化的样品来做分析,当然是越大越好,然后这些数据用weibull++分…[/quote]
早期失效的时间一般为3个月到1年,怎么确定自己的产品的早期失效时间呢?
[quote][url=pid=69280&ptid=7847]ragi发表于2010-1-915:47[/url]
有邮件吗?我可以给些案例给你参考[/quote]
正在研究中,求案例:$
老化一般都是施加温度应力~湿度具体怎么加不了解
共同学习
1.其实目前通常做的老化试验的前提是阿伦尼乌斯方程是对的,或者失效机理与稳态温度有关,与温度无关的失效机理用老化没有用。
2.对许多失效,老化并不能暴露早期失效,或者老化暴露的失效大部分不是器件本身的失效。
3.Motorola已经指出,160hr的老化已经足够。
[b]回复[url=pid=66583&ptid=7847]1#[/url][i]cipher121[/i][/b]
老化时间的确定主要基于两个因素,希望能达到的ERI、YRI,能承受的cost(包括费用和时间),ERI和YRI代表老化筛出率,ERI、YRI越低,说明老化效果越好,当然费用和时间是个权衡因素,不可能无限制的延长时间,但老化过程的方式和应力也是关键因素,绝对不是随便确定采用何种方式进行,这个就是个复杂问题,不应该是拍脑袋决定的。
[i=s]本帖最后由闲情于2010-2-816:31编辑[/i]
现在的器件可靠性越来越好了,成熟产品像以前那样短时间低应力的老化,筛选作用已经很不明显了。
Hi,ragi.
可以顺便给我一份吗?没有做过相关工作,需要实例辅助,多谢。
[quote]好想看ragi的文章啊,我正为BURNIN时间的确定头痛呢,能show一下具体的操作方法吗?万分感激。
aaa1030发表于2010-1-910:38[url=pid=69266&ptid=7847][/url][/quote]
有邮件吗?我可以给些案例给你参考
burnin是产品先期是否存在不良的筛选方法,除前面有位兄弟提到的常温下烧机外,可以考虑采用提升温度或者工作电流等方法评估产品可能失效的时间。具体的估算方法在论坛里面admin有发过相关的帖子。
关注,学习!
好想看ragi的文章啊,我正为BURNIN时间的确定头痛呢,能show一下具体的操作方法吗?万分感激。
[b]回复[url=pid=66662&ptid=7847]5#[/url][i]fuckit[/i][/b]
今天看了你给的文章,很有帮助,谢谢了
不过准确的失效数据比较难找到
感谢fuckit和ragi提供的思路,也感谢各位的讨论……
我会试试看能不能有进展
[b]回复[url=pid=66583&ptid=7847]1#[/url][i]cipher121[/i][/b]
你可以拿一定数量老化的样品来做分析,当然是越大越好,然后这些数据用weibull++分析,通过浴缸曲线就可以推算出早夭期的一个时间,前提是数据一定要真实,如果你的老化试验能够加入湿度当然更好,不过这个加速因子又不一样了,目前为止没有这样做过,论坛里应该有人可以帮助你
一般適用溫度~溼度較少加入時間及條件主要是實際RUN一些批量,確認哪個時間是最合適的
看看这篇文章对你是否有帮助:
[url]http://www.reliasoft.com/newsletter/v7i2/burn_in.htm[/url]
理论的东西看起来挺好,具体实施起来困难多了
常温下做的是烤机了
不是特别清楚,我们公司产品出厂的时候貌似都要经过2天左右的老化,但是基本是在常温下做的,关注。
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