求助:λ(t)指数分布的失效期问题

[i=s]本帖最后由cipher121于2009-12-1421:06编辑[/i]

今天在看坛子里找到的“可靠性设计教材”时,
有一个λ(t)的例子:
一、可靠性基础知识失效率λ(t)与失效密度函数f(t)的用途
例6:有一批产品共80个投入试验,每隔40小时测试一
次,失效数分别为7、6、6、5、2,试验200小时后还有52
个样品正常,再继续试验2000小时共有5个样品失效,问产
品的失效分布形态。
λ(40)=7/40×(80-7)=0.0024
λ(80)=6/40×(73-6)=0.0022
λ(120)=6/40×(67-6)=0.0024
λ(160)=5/40×(61-5)=0.0022
λ(160)=2/40×(56-2)=0.0009
由失效率计算的前4个数据看,基本为常数满足可靠度函
数服从指数分布的形态。第五个数据失效率产生了很大的偏
离说明从这次测试后产品将进入偶然失效期。由此可见失效
率不是恒定不变的,产品失效期的三个阶段其失效率也是变
化的。

由前4个数据看出服从指数分布,没问题;
但是问题来了,为什么说第五个数据偏离后,就代表产品进入偶然失效期呢?
那前4个数据是出于早期失效期?
难道产品寿命周期可以有两个失效率不同的偶然失效期?

请各位大侠看看,到底是什么问题。

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可靠性技术可靠性试验

有传感器产品的可靠性试验规范没?

2009-12-14 14:25:56

可靠性技术可靠性设计

对于不同的元器件或材料,加应力对应的缩短检测时间的程度是怎样的

2009-12-15 8:29:38

11 条回复 A文章作者 M管理员
  1. jamesstudy001

    渐变实效吧

  2. cipher121

    [b]回复[url=pid=67238&ptid=7888]9#[/url][i]facri001[/i][/b]

    ohyes.yougotit

  3. facri001

    指数分布主要是用在随既失效区

  4. cipher121

    我明白大家说的意思,指数分布是指失效率恒定,对应于产品寿命周期的恒定/随机/偶然失效期。
    我想问的是:既然是恒定失效期,为什么前四个数据恒定,而第五个数据会有这么大偏差。按理说,正常情况下,第五个数据应该大于或等于恒定失效率嘛。而且文中还说从第五次测试才进入恒定失效期??

    第五个失效率应该是λ(200)才对。
    对了,这是从五所的一个“使用可靠性设计”中看到的,我知道这挺简单的,但就感觉文中的说法挺别扭的

  5. deadxiaoh

    刚查了一下资料,指数分布主要是用在随既失效区

  6. admin

    威布尔分布中m=1,即为指数分布。一般说的电子元器件类适用的恒定失效期。

    没有说早期失效用指数函数啊。

  7. admin

    威布尔分布中m=1,即为指数分布。一般说的电子元器件类适用的恒定失效期。

    没有说早期失效用指数函数啊。

  8. deadxiaoh

    指数函数应该不能描述早期失效吧、、、、个人理解呵呵

  9. cipher121

    [b]回复[url=pid=67088&ptid=7888]2#[/url][i]admin[/i][/b]

    谢谢Admin的关注,那篇文章我看过了
    感觉这个问题不涉及威布尔,我把帖子重新编辑了,原例在其中
    劳您再看看

  10. admin

    [url=http://www.kekaoxing.com/club/thread-6045-2-1.html]威布尔分布参数估计在EXCEL中的实现方法研究.pdf[/url]19楼

    三参数威布尔分布模型:
    m<1时,适用于早期失效;m=1时,适用于随机失效,退化为指数分布,m>1时,适用于老化失效。

    这篇文章推荐看看,可能有点相关。

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