免费！【6/20深圳场】HALT高加速寿命试验技术研讨会

在微利时代, 电子产品为了满足「Time-To-Market」的需要,除了产品开发周期一再被压缩外,还必须能够在最短的时间设计出可靠的产品。因此, 近几年来国际大厂纷纷将思维模式转为「如何在产品开发阶段，采用最快速又有效的方法来寻找产品可能潜在的缺陷!」

1979年, 美国休斯飞机公司首度导入加速应力手法(ESS)，使航空通讯电子系统在生命周期的失效率大幅下降。1996年, 美国环境科学技术学会(IEST)提出HALT介绍,强调 "HALT for Product Quick-To-Market", 继此之后, 国际上无论军方、工业与信息电子等产业均于产品雏型阶段，即导入HALT来缩短产品之研发验证周期，同时也采用HASA手法来控制量产质量,并降低产品于市场的失效率。

然而，企业界对于HALT/HASA试验精神一知半解，也时常对「如何决定产品必须承受的应力水平」感到困扰，甚至仍停留在「Testing for PASS」，而忽略试验真谛是在「Testing to FAILURE」。

因此, 本课程将以深入浅出方式带领学员了解以下内容:

时间	內容
13:00-13:30	报到
13:30-15:00	1.高加速寿命测试(HALT)的源起 2.如何正确执行高加速寿命试验 3.高加速试验下产品强度水平的取舍
15:00-15:20	茶歇
15:20-17:00	1.高加速应力稽核(HASA)在量产质量管理上的观念与应用 2.高加速应力(HASA)结果与环境试验之转换与应用 3.如何以侦错手法解决失效问题
17:00-17:30	Q&A

讲师简介

崔革文先生，目前担任iST宜特科技，工程总处副总经理一职。过去服务于台湾工业技术研究院长达18年，服务期间从事领域包括IC封装技术，电磁兼容修改技术，IC元器件/PC板、模块与终端产品可靠性设计验证与环境模拟试验技术。2003年加入iST 工程团队后，更致力于IC、PCB/ PCBA与模块等故障分析技术研究，为少数横跨电子产业供应链之可靠性与故障分析工程专业人员。

近三年来应两岸厂家邀请赴厂训练，包括台达电、华硕、智邦、光宝、研华、广达、鸿海、联正科技、联想上海、昆山台协会、Flextronics、Philips Lighting、IPC China、ISTA China等。

报名信息

参加对象：

PCBA、模块、终端产品厂之研发、质量保证等等相关工程人员

课程地点：

深圳漢永酒店B栋4楼-中国深圳市宝安福永街道福永大道（文化艺术中心侧）(查看地图)

课程时间：

2013年6月20号(星期四)

洽询专线：

深圳宜智发窗口:	+86-755-2971-7886 分机 3028 蓝小姐
iST宜特科技活动窗口:	+86-512-5763-9600 分机 6501 江小姐 Email: is@isti.com.cn

报名方式：

请點選「立即報名」，进行在线报名。即日起额满为止，欲报从速。
(一间公司限三名，若同公司有三名欲参与，每个人皆需填写报名表以利后续保留位置，报名是否成功确认以主办单位回复为主)

参加费用：

免费，请携带名片一张

注意事项

	因研讨会场地限制，学员招收人数额满为止，公告后请尽早报名。
	请于活动开始前进行报到。未能准时报到或当天无法出席之学员，本论坛无法为您保留讲义与座位，亦无法提供讲义电子文件。
	主办单位保留报名资格之最后审核权利，今年在iST深圳委托试验者将享有优先参加资格。所有經審核成功報名者，主辦單位將于活动前一周以E-mail寄发「課前通知」，以示您的参加资格，請於活動開始前進行報到。
	若因不可预测之突发因素，主办单位保留变更论坛时间、议程内容及相关事项之权利。
	现场报名之学员，主办单位视现场状况保有开放进场与否之权利。