上海场 28纳米芯片设计关键密码-从失效方式探讨可靠性验证对策研

通知：本场研讨会现复办日期为：6/24（周一）　

面对日新月异的竞争市场，芯片设计企业除了要快速将产品量产上市，同时更需关注芯片设计/制作的质量，过往的「功能设计Design For Function」观念已无法满足消费者对于产品质量的要求，新的观念是在设计初期即导入该项产品生命周期的任务使命，也就是所谓的「可靠性设计Design For Reliability」，降低未来量产时，产品失效导致的客诉退货机会。

此外，芯片在开发/量产/客退的失效分析与除错效率，也是分秒必争的关键。尤其在制程迈向28/20纳米先进制程的失效分析更是困难。如何针对各种不同的IC失效模式，选择最正确有效的程序，来加速分析效率与节省分析成本? 如何正确解读分析结果，进一步判断修改方向? 这是许多芯片设计开发者经常面临的问题。

iST宜硕科技(上海)特别邀请台湾总部-iST宜特科技具20年丰富经验的半导体专家，分别就芯片失效现象、可靠性与失效分析的不同面向观点，切入探讨芯片问题，将多年实务经验，化为一系列的教战准则与业界先进进行分享。

时间

内容

8:30-09:00

报到

09:00-10:30

如何从客退品之故障模式，评估芯片设计前期需关注哪些可靠性验证?

	常见芯片失效模式与失效原因
	失效模式对应之可靠性验证方法

10:30-10:45

免费茶歇

10:45-12:30

借鉴市场常见失效案例，如何拟出自家可靠性验证防范对策?

失效模式管理与防范对策

12:30-13:30

免费午餐

13:30-14:45

如何正确选择失效分析工具，判断芯片缺陷的修改方向?

芯片失效模式分析流程

14:45-15:00

免费茶歇

15:00-16:20

如何克服先进制程在失效分析上的限制与挑战?

失效分析工具应用与案例分享

16:20-16:30

Q&A

讲师简介

曾劭钧

	现职：iST宜特科技台湾总部可靠度工程处副处长
	经历：矽品 & 凌越科技等IC可靠度试验规划与执行，IC可靠度教育训练讲师与技术咨询，在IC验证规划、寿命分析与可靠度工程验证技术有相当丰富经验

庄凌艺

	现职：iST宜特科技台湾总部宜特科技故障分析工程处资深经理
	经历：曾任职于友达光电、台积电、华亚科技，超过14年电子产业经验，工作期间曾获多项国内外专利，特别在产品工程、良率提升及产品故障失效之分析有丰富经验。

报名信息

参加对象：

芯片设计厂之研发、质量保证、制程等相关工程人员

课程地点：

上海市徐汇区漕河泾900号三楼报告大厅(漕河泾开发区) (查看地图)

课程时间：

2013年6月24号（星期一）

洽询专线：

iST宜硕科技业务窗口:	+86-21-6406-9881 分机 2280 何小姐
iST宜特科技窗口:	+86-512-5763-9600 分机 6501 江小姐 Email: is@isti.com.cn

报名方式：

请点选网页右上角「立即报名」进行在线报名。即日起额满为止，欲报从速。(一间公司限三名，若同公司有三名欲参与，每个人皆需填写报名表以利后续保留位置，报名是否成功确认以主办单位回复为主)

参加费用：

课程免费，请携带名片一张

注意事项

	主办单位保留报名资格之最后审核权利，并于活动前一周以E-mail寄发「课前通知」，以示您的参加资格。请于活动开始前进行报到。
	未能准时报到或当天无法出席之学员，本论坛无法为您保留讲义与座位，亦无法提供讲义电子文件。
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