【5/13号深圳场】芯片可靠性验证关键因素研讨会

广大的市场需求带动近年Fabless的IC设计产业在中国快速崛起，但产品的质量发展速度却跟不上市场的脚步，加上消费者意识抬头与国外竞争者的抢进，过去强调的高CP值的竞争优势逐渐丧失，下一阶段的战场将是在质量与可靠性上的竞赛。

高质量与可靠性 ≠ 高成本，了解问题的发生原因才能有效解决问题，此次研讨会将以深入浅出方式与各位从IC产品常见的故障模式来探讨先期可靠性的验证方式与其代表含义，依产品的应用/制程变更来拟定合适且有目的性的可靠性验证计划，并以此验证计划来评估产品未来的失效率。另外针对与客户端常见的ESD/EOS故障纠纷，课程中也将分享数个ESD/EOS在故障模式与分析流程的实际案例，与新式ESD/EOS的验证手法介绍。

iST宜特科技特别邀请台湾总部-iST宜特科技具备13年丰富经验的半导体专家，分别就芯片失效现象、可靠性与失效分析的不同面向观点，切入探讨芯片问题，将多年实务经验，化为一系列的教战准则与业界先进分享。您将会了解到：

	如何应用可靠性验证来降低IC的客退率?
	如何快速拟定可靠性验证计划
	ESD/EOS的验证手法介绍

时间	內容	主讲人
12:30-13:20	报到
13:20-13:50	芯片不良对终端产品之影响性	宜特科技│中国区崔革文总经理
13:50-15:30	如何应用可靠性验证来降低IC的客退率? (1) 从常见失效模式来探讨IC设计前期须对应的可靠性验证 (2) 快速拟定可靠性验证计划	宜特科技│可靠性工程处曾邵钧工程处长
15:30-15:40	茶歇
15:40-16:40	ESD / EOS故障模式及分析结果实例分享	宜特科技│可靠性工程处曾邵钧工程处长
16:40-17:00	Q&A

讲师简介

曾劭钧

	现职：	iST宜特科技台湾总部可靠度工程处副处长
	经历：	矽品 & 凌越科技等IC可靠度试验规划与执行，IC可靠度教育训练讲师与技术咨询，在IC验证规划、寿命分析与可靠度工程验证技术有相当丰富经验

报名信息

参加对象：

IC设计公司之质量/可靠性工程相关人员

研讨会地点：

深圳高新技术产业园南区高新南七道清华大学研究院A107报告厅(查看地图)

洽询专线：

iST宜特科技活动窗口:	+86-512-5763-9600 分机 6501 江小姐 Email: is@isti.com.cn
深圳宜特窗口:	+86-755-8615-3371 分机 4603 王小姐

报名方式：

请点击「立即报名」进行在线报名。即日起额满为止，欲报从速

参加费用：

免费，请携带名片一张

注意事项

	主办单位保留报名资格之最后审核权利，并于活动前一周以E-mail寄发「课前通知」，以示您的参加资格。请于活动开始前进行报到。
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