公司有款产品在设计过程中有人提出对EOS进行一定的模拟，来提高抗EOS的能力。
如果是ESD我倒会做，但是EOS确实不知道。
产品介绍：是个TRANSCEIVER，有管脚的，需要对信号管脚和供电管脚进行EOS模拟
我现在看到一个标准时GB/T17626.4-1998电磁兼容试验和测量技术电快速瞬变脉冲群抗扰度试验，不知道适不使用，那位达人指导一下，谢谢！
EOS模拟试验
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TRANSCEIVER是光收发合一模块，激光器发光，接收器收光
EOS是在输入端加入大电压或电流，但是相对正常电压增加多少才合适…
这个才是最重要的地方。
EOS試過電壓或過電流造成的破壞,一般是在輸入端=>就IC解析燒毀現象會較明顯
ESD為靜電破壞再任何一支PIN腳皆會發生=>就IC解析燒毀現象為不明顯穿孔現象
EOS可以在輸入端加大電壓或電流去試試
不知這說明是否合理
TRANSCEIVER不懂是啥，是类似激光器方面的么？
我今天又看了一下ADI对于EOS（Electricaloverstress)的说明：
EOScoversabroadspectrumofevents,includingelectrostaticdischarge(ESD),latch-up,power-up/power-downtransients,andexcessiveDCcurrent/voltagelevels.ESDistypicallythemostcommonformofEOS,andconsequentlyitisthefocusofmuchofthischapter.
因为我们的产品对于芯片来说属于设备级，那么将EOS简单理解为ESD。对产品进行ESD阈值试验，可否？
估计要把EOS的全名弄清楚，才好理解。。
EOS是啥?过电应力,一般就是过压或是过流,造成IC烧坏.大都IC厂商做分析时都是这个结论,除非你自己有能力分析,或是舍得烧银子请第三方机构分析.否则还是只能接受现实.
电快速脉冲群不适用的,再考虑一下吧.