常用失效分析技术手段
无损检测:X-Ray透视检查、三维CT检查、C-SAM检查
材料成分分析方面:
傅立叶变换显微红外光谱分析(FTIR)、显微共焦拉曼光谱仪(Raman)、扫描电镜及能谱分析(SEM/EDS) 、X射线荧光光谱分析(XRF)、气相色谱-质谱联用仪(GC-MS)、裂解气相色谱-质谱联用(PGC-MS)、核磁共振分析(NMR)、 俄歇电子能谱分析(AES)、X射线光电子能谱分析(XPS)、X射线衍射仪(XRD)、飞行时间二次离子质谱分析(TOF-SIMS)
材料热分析方面:差示扫描量热法(DSC)、热重分析(TGA)、热机械分析(TMA)、动态热机械分析(DMA)
材料电性能方面:击穿电压、耐电压、介电常数、电迁移等。
无损检测:X-Ray透视检查、三维CT检查、C-SAM检查
材料成分分析方面:
傅立叶变换显微红外光谱分析(FTIR)、显微共焦拉曼光谱仪(Raman)、扫描电镜及能谱分析(SEM/EDS) 、X射线荧光光谱分析(XRF)、气相色谱-质谱联用仪(GC-MS)、裂解气相色谱-质谱联用(PGC-MS)、核磁共振分析(NMR)、 俄歇电子能谱分析(AES)、X射线光电子能谱分析(XPS)、X射线衍射仪(XRD)、飞行时间二次离子质谱分析(TOF-SIMS)
材料热分析方面:差示扫描量热法(DSC)、热重分析(TGA)、热机械分析(TMA)、动态热机械分析(DMA)
材料电性能方面:击穿电压、耐电压、介电常数、电迁移等。
联系:向义芮,021-20780203/13681904175,xiangyirui@mttlab.com
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