各位兄弟姐妹，
小弟在学习可靠性预计标准SR－332ISSUE2中有几个问题一直没搞明白，请各位不吝赐教，谢谢先。
1.SR-332issue2中3.3节中blackbox+fielddata模型(1);5.3节中partcount+fielddata模型（2），这两个式子的原始出处是参考那篇论文？
2.SR-332issue2中3.2.2节，时间因子W是如何划分时间段的？有什么依据？出处是那篇论文？5.2.2节，时间因子W是如何划分时间段的？有什么依据？出处是那篇论文？
3.SR-332issue2中9.2.1节中，electricalstresscurveK值为什么和其他的不同，即其值都不小于1？
4.SR-332issue2中8.3节二极管电性应力参数，8.12节中三极管电性应力参数，有些有两类电性应力curve?
5.SR-332issue2中2.2.3.3节中，还有9.1节中，对于元器件操作温度的测量，该标准规范热电偶的位置为距离单元0.5英寸，这样很难实现，不知道大家是否是直接粘在元器件的本体上？还是有更好的实现方法？
可靠性预计SR-332 ISSUE 2中的问题
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怎么没有高手前来解疑答惑
恩不错学习了
顶:)
期待
1，2楼都是我一个人的问题，
再顶下，期待高人解答，谢谢。。。。
:L楼上的基本上属于没回答楼主的问题哦．．．．．等待解答～
同样的疑问包括１ 温度的测定 ２电应力的测定
[i=s]本帖最后由liugang_2002于2010-3-2318:16编辑[/i]
[b]回复[url=pid=72124&ptid=8287]1#[/url][i]liugang_2002[/i][/b]