请教:间隙工作寿命

IEC60747-9-2007中的间隙工作寿命试验中,结温如何控制,off时间一般取多少,on的时间又取多少,不知有没有专门的测量设备

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可靠性技术新手提问

如何用试验筛选点焊不良的产品

2010-3-24 16:21:07

可靠性技术新手提问

求助:盐雾试验相关问题

2010-3-26 14:38:50

5 条回复 A文章作者 M管理员
  1. deadxiaoh

    好专业!还有专门测间隙工作寿命,呵呵

  2. zhangxw

    间隙工作寿命(IOL)中,IGBT器件结温的上升如上图所示,先上升后下降,结温的变化为如果是60℃,首先是结温上升值如何测量,其次结温下降速度要够快,因温循次数很多,结温下降快才能减少试验时间,如有专用测量设备,请路过的大侠留下信息。
    IGBT-1.jpg

  3. zhangxw

    IEC60747-9-2007:Part9:Insulated-gatebipolartransistors(IGBTs)
    IGBT是MOS结构双极器件,属于兼具功率MOSFET的高速性能与双极低电阻性能的功率器件。IGBT的应用范围一般都在耐压600V以上、电流10A以上、频率为1kHz以上的区域。鉴于IGBT的参数特性,IGBT目前主要应用在电机、变换器(逆变器)、变频器、UPS、EPS电源、风力发电设备、数码相机闪光灯充电器、电磁炉、变频家电等工业控制和消费电子产品中。在汽车电子市场IGBT也已经代替达林顿管成为汽车点火器的首选器件,另外在计算机和网络通信领域,IGBT广泛应用在大功率服务器、UPS电源以及大功率基站中。

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