AEC_Q100_Rev_G_Base_Document.pdf 可靠性文档 可靠性资料 10年4月28日 编辑 jim_zhong 取消关注 关注 私信 英文版的，供大家参考。 给TA打赏 共{{data.count}}人 人已打赏
sunjj lv5lv5 11年1月25日 [i=s]本帖最后由sunjj于2011-1-2510:00编辑[/i] [quote]有没有知道AEC的官方网站？ 阿牛发表于2011-1-2417:04[url=pid=86798&ptid=8432][/url][/quote] [url]www.aecouncil.com[/url] 需要代理服务器才能登陆。
sunjj lv5lv5 10年4月28日 中文版 AEC_Q100_Rev_G2007 文件下载：AEC_Q100_Rev_G 中文.pdf 密码或说明： 大小：751KB attach文件下载后改名pdf后缀
adminM可靠性网管理员 lv6lv6 10年4月28日 谢谢钟兄的分享，如下是内容摘要: FAILUREMECHANISMBASEDSTRESSTESTQUALIFICATIONFORINTEGRATEDCIRCUITS AutomotiveElectronicsCouncil TABLEOFCONTENTS AEC-Q100FailureMechanismBasedStressTestQualificationforIntegratedCircuits Appendix1:DefinitionofaQualificationFamily Appendix2:Q100CertificationofDesign,ConstructionandQualification Appendix3:PlasticPackageOpeningforWireBondTesting Appendix4:MinimumRequirementsforQualificationPlansandResults Appendix5:PartDesignCriteriatoDetermineNeedforEMCTesting Appendix6:PartDesignCriteriatoDetermineNeedforSERTesting Attachments AEC-Q100-001:WIREBONDSHEARTEST AEC-Q100-002:HUMANBODYMODEL(HBM)ELECTROSTATICDISCHARGE(ESD)TEST AEC-Q100-003:MACHINEMODEL(MM)ELECTROSTATICDISCHARGE(ESD)TEST AEC-Q100-004:ICLATCH-UPTEST AEC-Q100-005:NONVOLATILEMEMORYWRITE/ERASEENDURANCE,DATARETENTION, ANDOPERATIONALLIFETEST AEC-Q100-006:ELECTRO-THERMALLYINDUCEDPARASITICGATELEAKAGE(GL)TEST AEC-Q100-007:FAULTSIMULATIONANDTESTGRADING AEC-Q100-008:EARLYLIFEFAILURERATE(ELFR) AEC-Q100-009:ELECTRICALDISTRIBUTIONASSESSMENT AEC-Q100-010:SOLDERBALLSHEARTEST AEC-Q100-011:CHARGEDDEVICEMODEL(CDM)ELECTROSTATICDISCHARGE(ESD) TEST AEC-Q100-012:SHORTCIRCUITRELIABILITYCHARACTERIZATIONOFSMARTPOWER DEVICESFOR12VSYSTEMS
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谢谢分享中文版的。
谢谢，非常感谢。
学习学习！
顶一个！
正在寻找呢，多谢大家的分享。
Thankforyourinformation
谢谢钟兄&sunjj的分享
[i=s]本帖最后由sunjj于2011-1-2510:00编辑[/i]
[quote]有没有知道AEC的官方网站？
阿牛发表于2011-1-2417:04[url=pid=86798&ptid=8432][/url][/quote]
[url]www.aecouncil.com[/url]
需要代理服务器才能登陆。
學習中
有没有知道AEC的官方网站？
向老大致敬！谢谢！
向老大和sunjj学习！！
满足大众要求！！
中文版
AEC_Q100_Rev_G2007
谢谢钟兄的分享，如下是内容摘要:
FAILUREMECHANISMBASEDSTRESSTESTQUALIFICATIONFORINTEGRATEDCIRCUITS
AutomotiveElectronicsCouncil
TABLEOFCONTENTS
AEC-Q100FailureMechanismBasedStressTestQualificationforIntegratedCircuits
Appendix1:DefinitionofaQualificationFamily
Appendix2:Q100CertificationofDesign,ConstructionandQualification
Appendix3:PlasticPackageOpeningforWireBondTesting
Appendix4:MinimumRequirementsforQualificationPlansandResults
Appendix5:PartDesignCriteriatoDetermineNeedforEMCTesting
Appendix6:PartDesignCriteriatoDetermineNeedforSERTesting
Attachments
AEC-Q100-001:WIREBONDSHEARTEST
AEC-Q100-002:HUMANBODYMODEL(HBM)ELECTROSTATICDISCHARGE(ESD)TEST
AEC-Q100-003:MACHINEMODEL(MM)ELECTROSTATICDISCHARGE(ESD)TEST
AEC-Q100-004:ICLATCH-UPTEST
AEC-Q100-005:NONVOLATILEMEMORYWRITE/ERASEENDURANCE,DATARETENTION,
ANDOPERATIONALLIFETEST
AEC-Q100-006:ELECTRO-THERMALLYINDUCEDPARASITICGATELEAKAGE(GL)TEST
AEC-Q100-007:FAULTSIMULATIONANDTESTGRADING
AEC-Q100-008:EARLYLIFEFAILURERATE(ELFR)
AEC-Q100-009:ELECTRICALDISTRIBUTIONASSESSMENT
AEC-Q100-010:SOLDERBALLSHEARTEST
AEC-Q100-011:CHARGEDDEVICEMODEL(CDM)ELECTROSTATICDISCHARGE(ESD)
TEST
AEC-Q100-012:SHORTCIRCUITRELIABILITYCHARACTERIZATIONOFSMARTPOWER
DEVICESFOR12VSYSTEMS