[i=s]本帖最后由dreampet于2010-5-2817:57编辑[/i]
实验室推加速寿命测试快半年时间了，主要针对开关电源板。研发部门也基本认可了这个测试，但有个问题一直得不到很好的解决，就是测试温度的选择，因为要保证加速测试时的失效机理与其在使用环境下的实效机理相同。
目前我们采用的方法是测试板子在正常工作时各主要元件表面温度的温升值，然后根据这个值来制定测试时的温度值，保证板上元件表面温度都不会超过其数据手册标称的温度值。
比如对于板上标称105℃的电容，如果测得温升为30℃的话，那就在75℃环境下对这块电路板进行加速寿命测试。
但通过这个方法定出来的测试温度一般都在60~75℃之间，我认为这个温度应该还可以往上提，但在部门里讨论时得不到认可，因为我们大家（包括我自己，呵呵）都认为，如果元件表面温度超过厂商的标称值，那其失效机理应该就会发生变化，可毕竟厂商标注的参数都比较保守，是不是超过这个值失效机理就会发生变化、或者超过多少才会发生变化，这个我们都不能确定，毕竟才开始进行这个测试没多久，也没有积累足够的数据来说明。
因此，在这里把这个问题提出来，大家讨论下，或者分享下平时自己进行测试的经验，不胜感激。
学习一下
我们遇到同样的问题，还是在datasheeet规定范围内进行的超出了就不好说了啊
个人觉得做还是在元器件的规格书标称的规格内做，超出温度范围的也可以做，把超出温度范围失效的样品进行分析，以便后期对市场端返回的一些问题可以做参考。
看得不是太明白了。。。
多谢分享，同时收获金币1枚，一举两得也
路过
直接从IEC上找点东西过来可以用一用，
[b]回复[url=pid=75924&ptid=8652]10#[/url][i]pif2216[/i][/b]
我们就是这么处理的，所以外壳温度为75℃时，内部元件还是有温升的。这就是那个30℃温升的由来
外壳搞个小洞把热电偶放进去测温度就是了，你要的是温度；不会你做完试验的样品还继续卖吧。
外壳搞个小洞把热电偶放进去测温度就是了，你要的是温度；不会你做完试验的样品还继续卖吧。
[b]回复[url=pid=75896&ptid=8652]6#[/url][i]pif2216[/i][/b]
测试时时板子是有外壳的。
你这么温升值30度和你在75度下做实验有关系么？没搞明白；
在实验箱里面你设定的是75度，那么你产品周围就是在这附近；所以你的温升值来路不明啊；
建议你在设定温度下将温感线贴于你要测的元器件表面测实际带电工作温度，若不到极限，可继续升温，直到你所需要的温度点。
当然,这是自己摸底,给客户的报告不必如此.
电源板,设计优良的话,做双85应该没有问题.
个人感觉还是在供应商规定的温度下进行，不过也可以与供应商讨论如果超过这个界限，会有什么形式的实效，判断该实效是否在应用中会出现。
SF顶一下，我其实还是觉得保守好一点，温度就定死在厂商的承诺温度那里