电子元器件恒定加速度试验

电子元器件恒定加速度试验

一、概念

恒定加速度筛选就是用机械旋转产生离心加速度以获得恒加速度的一种试验,又被称为离心加速度试验或稳定加速度试验。其目的是通过该试验来确定电子元器件在离心加速度作用下的适应能力或评定其结构的牢靠性,以弥补做机械冲击和振动试验时可能未检出的有结构或机械类型缺陷的器件。

二、试验方法

电子元器件常用的恒加速试验方法有埋沙法和磁贴法两种。

1.埋沙法

埋沙法就是将元器件放入一个外形是立方体内腔为圆柱体的夹具内固定住然后进行试验。

2.磁贴法

磁贴法是利用磁力将元器件吸附在夹具上进行试验。

三、试验设备

转臂式离心稳态加速度试验机做为模拟离心运动的一种手段,以考核设备、元器件的抗荷性能及检测抗荷性能指标的试验设备。主要用于对元器件、小部件和小型整机做例行动态结构完好性及适应性试验。并且可在元器件的制造过程中做百分之百筛选试验,检测和剔除任何结构部件低于标称值的器件, 用于确定电子元器件、小型设备和其他电工电子产品经受稳态加速度(恒加速度)环境所产生的力(重力除外)作用下,如运行的车辆、空中运载工具、旋转机械和抛射体所产生的作用下,结构的适应性和性能是否良好,以及评定一些元器件的结构完好性,并且可在恒加速度环境下考核试品的电参数。

电子元器件恒定加速度试验

四、可能暴露的缺陷

恒定加速度试验中可能暴露的缺陷有:结构缺陷、芯片粘片、芯片裂纹、引线键合和机械强度缺陷。

五、注意事项

1.施加的应力强度与管壳质量、管壳内腔周长及器件类型有关,应严格按照标准规定执行,以免由于过应力而给器件留下隐患。

2.器件外壳应采用专用夹具固定好,否则容易对外壳产生损伤性应力。例如:用细砂物质作填充料的离心罐应尽量将其填实并对器件表面加以保护,以免填充料磨坏器件表面,甚至压凹器件管帽。

3.对内部元件主基座平面与Y轴垂直的器件,管壳安装的方向应是使芯片脱离粘结的方向,即仅在称为Y1的方向进行试验。

电子元器件恒定加速度试验

电子元器件恒定加速度试验

本文转自: 可靠性杂坛

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