各有关单位：
电子信息系统装备的可靠性与采用的电子元器件（微电路）质量可靠性有非常密切的关系，为了保证系统装备质量，元器件应用与研制单位对于元器件可靠性的主要关注包括：（1）如何正确评价并保证采购的元器件能够满足用户对元器件的质量要求；（2）如何正确设计与应用元器件以避免因设计不合理或使用不当造成元器件的意外失效；（3）对失效元器件如何进行失效分析以查找原因，并有针对性的采取措施。
为解决上述问题，切实帮助我国元器件应用与研制人员了解、掌握电子元器件可靠性评价、应用与失效分析方面的理论与技术，培养一批掌握电子元器件可靠性评价与应用技术的骨干力量，举办单位特组织行业知名专家、教授以及我国航天重点单位代表（专家简介见附件3），针对系统整机与电子元器件承制企业举办电子元器件可靠性评价、应用与失效分析高级培训研讨班。有关事宜通知如下：
一、主办单位
西安电子科技大学
工业和信息化部电子第五研究所（中国赛宝实验室）
二、协办单位
中科院赛思库
西安芯派半导体有限公司
三、培训内容
本培训课程在介绍可靠性基本概念的基础上，结合实际工程应用，分析常规评价方法存在的问题，介绍元器件质量评价的基本理念和采用的主要技术；针对不同类型元器件，结合应用案例介绍元器件的可靠性应用原则和主要方法；结合失效分析案例介绍失效分析程序和主要技术；在理论课讲授的基础上，开展现场失效分析实验与检测测试设备应用参观学习。本课程讲授方式以案例教学为主，以工程应用为主导方向，突出国防、高可靠特色。主要培训内容包括：
1.军用电子元器件质量与可靠性控制的典型案例；
2.军用标准体系与要点讲解；
3.元器件可靠性概述；
4.元器件质量可靠性保证和评价技术；
5.元器件的应用可靠性技术；
6.元器件失效分析技术；
7.失效分析案例与实验；
8.宇航高可靠元器件的可靠性要求；
9.问题研讨。
四、参加人员
本次培训班面向电子元器件应用与承制单位从事质量与可靠性的工程师和研究人员，包括元器件采购、应用、质量控制及电子整机开发、可靠性测试与检测工程师等。举办单位将颁发本次培训内容认证的结业证书。
五、培训安排
1.培训时间：2018年10月16日-10月21日（详细日程安排见附件2）；
2.培训地点：西安电子科技大学（北校区）；
3.报到时间与地点： 10月15日，西电宾馆。
六、培训费用
本次培训费3600元/人（含培训教材、资料费、证书费、培训期间工作餐），培训人员食宿由举办单位统一安排，交通、食宿费用自理。培训费用现场收取，统一开具报销发票。
七、报名方式
请各单位收到通知后，积极选派人员参加，将报名回执表（附件1）传真或发送Email至联系人。
联系人：西安电子科技大学微电子学院，朱媛，游海龙；
电 话：029-88204043
13289825818；
传 真：029-88202570；
E mail : yzhu@xidian.edu.cn
八、附件：
1.报名回执表；
2.培训日程安排；
3.授课专家简介；
4.课程提纲。
2018年9月20日
附件3 主讲老师情况简介：
张德胜，西安电子科技大学，教授，装发部北斗卫星元器件自主可控专家组组长，装发部载人航天工程元器件专家组组长；长期从事电子元器件质量与可靠性研究与管理工作，是我国GJB548、GJB3014、GJB7400-2011 等国军标的起草人之一。张德胜教授近20年来参与和指导了近百家电子元器件制造单位和军标线质量工作，处理与分析大量元器件质量与可靠性问题，在该领域具有丰富经验，为我国元器件国产化、宇高元器件能力建设、元器件自主可控建设、重点任务元器件工程支持等方面做出了重大贡献。
庄奕琪，男，1957年生。教授，博士生导师，曾任西安电子科技大学微电子学院院长、国家集成电路人才培养基地主任。1982年本科毕业于西安电子科技大学“半导体物理与器件”专业，1986年在同校获得“计算机器件与设备”硕士学位，1996年在中国科学院西安光机所获“光电子学”博士学位。1982年起至今一直从事微电子器件及其系统的科研、教学、开发工作。曾主持完成科研项目30余项，其中有8项获得省部级科技进步奖（二等奖2项，三等奖6项）。在国内外学术刊物中发表论文百余篇，出版有学术专著《电子设计可靠性工程》、《半导体器件噪声及低噪声化技术》、《微电子器件可靠性应用技术》、《电子元器件可靠性工程》、《纳米电子学》等六部。目前的主要研究方向是：微电子器件与电路可靠性物理及其应用技术、射频与模拟集成电路设计、通信与功率系统集成技术、微弱信号检测与虚拟仪器开发。
恩云飞，女，1968年3月生。博士、研究员、973项目首席科学家，电子元器件可靠性物理及其应用技术重点实验室常务主任。先后主持承担国家、省部级科研项目20余项，获国家科技进步三等奖一项、省部级科技奖十项，享受国务院政府特殊津贴专家。在《Applied Physics letters》、《IEEE Electron Device Letters》等国内外学术期刊及国际会议上发表论文六十余篇，出版专著三本、译著三本，申请及授权国家发明专利三十余项。先后担任中国电子学会第七届理事会理事、中国电子学会青年工作委员会委员、中国电子学会可靠性分会委员，全国半导体专业标准化技术委员会集成电路分技术委员会委员，模拟集成电路国家级重点实验室学术委员会委员，广东省电子学会理事，《电子质量》、《失效分析与预防》学术期刊编委会委员等。在电子元器件可靠性物理、分析评价及试验方法等方面具有20多年的研究基础和工程经验，取得显著成果。系统地开展了集成电路质量控制、可靠性模型、测试结构设计、试验方法及数据分析研究，以及集成电路失效定位、失效分析技术研究等工作，推动实现技术的集成创新与综合应用。
贾新章，男，1946年生。教授，博士生导师，一直从事集成电路设计、元器件可靠性评价和质量控制方面的教学与科研工作。正式出版专著和教材12部，并参与了GJB548、GJB597、GJB7400等国家军用标准的制订。先后主持/参与省部级科研项目16项，发表论文30余篇。三次获部级科技进步二等奖，一次获陕西省教育改革成果二等奖。先后协助50余家元器件生产厂、所实施以Cpk和SPC为中心的元器件工艺可靠性保证技术。
吴金平，研究员，赛宝认证中心审核部专家；中国军用电子元器件质量认证委员会监督检查机构赛宝认证中心资深审核专家，长期从事我国军用电子元器件生产线和产品认证，参与指导和评审了近百余条我国电子元器件军标生产线，负责军用电子器件质量体系认证和注册后的监督工作，具有丰富的体系建设与认证经验。
党炜，赛思库创始人，国家科技重大专项专家组成员、载人航天工程空间站空间应用系统元器件与可靠性专家组组长、中国科学院青年创新促进会成员，建立了国内第一的元器件大数据智能服务平台，为商业航天、航天军工和高端制造客户提供“智慧化”元器件使用可靠性解决方案。他是神舟飞船跳出的“海盗”，曾是我国最年轻的“中国载人航天工程突出贡献者”奖章获得者，负责了神舟飞船、天宫实验室和天舟货运飞船上的空间科学与应用“硬科技”设备的系统可靠性和元器件工作，帮助任务取得圆满成功。
林晓玲，女，1978年9月生。博士、高级工程师，电子元器件可靠性物理及其应用技术重点实验室失效分析技术研究室主任。先后主持承担国家、省部级科研项目10余项，获省部级科技进步二等奖两项。在国内外学术期刊及国际会议上发表SCI、EI检索论文三十余篇，并多次在国际、国内会议上做大会报告，与与会者进行技术交流；参与出版专著、译著五本，申请及授权国家发明专利10余项。2004年起至今一直紧跟半导体工艺、先进高密度集成封装的发展而开展失效分析新技术及其应用研究，系统地开展了以电测试分析技术、无损探测技术、热点检测技术、内部缺陷定位技术等为主的失效定位技术，以微区精确制样技术、微观尺度形貌/结构分析技术、失效机理验证技术等为主的失效机理分析及验证技术，失效分析专家系统、失效控制技术为主的失效预防与控制技术等研究工作，所研究的技术成果已集成创新与综合应用到众多元器件研制和整机用户单位，协助解决了产品研制和使用中大量关键可靠性技术问题。
孙明，男。研究员，中国航天科技集团公司第五研究院（即中国空间技术研究院，简称航天五院）宇航元器件应用验证项目副总指挥，元器件专家组成员，宇航物资保障事业部科技委委员；总武装器装备研制生产使用国产军用电子元器件评估专家。1992年至今，航天五院从事宇航元器件保证和管理工作，历任型号物资经理、物资计划质量处副处长、物资质量处处长、宇航元器件应用验证项目副总指挥，现负责某卫星专项国产化元器件应用验证和工程应用工作。长期从事宇航元器件科研项目管理和航天器用元器件保证及质量管理，具有丰富的元器件质量管理和项目管理经验；组织航天五院航天器用元器件采购规范、国产元器件选用目录策划及实施。
游海龙，男，1979年6月生。博士，副教授，微电子学与固体电子学、集成电路工程学科硕士研究生导师；兼聘西安电子科技大学经济管理学院管理科学与工程学科硕士研究生导师。2010年9月至2011年9月，美国佐治亚理工学院（Georgia institute of technology）访问学者。主要研究方向为电子元器件、半导体制造工艺质量与可靠性控制与评价技术、半导体器件可靠性与失效机理以及集成电路设计与可靠性等领域。2005年至今，主持、参与包括国家自然科学基金、省部级课题十余项。
附件4 课程提纲：
第一部分 元器件可靠性概述（2课时）
1.可靠性概念
2.可靠性表征
3.可靠性技术概要
4.失效分析技术概要
第二部分 元器件质量可靠性保证和评价（6课时）
1.关于电子元器件质量可靠性的基本理念
2.元器件供货方认证要求
3.可靠性设计与设计能力认证
4.制造过程控制与与工艺能力表征
5.元器件出厂产品平均质量水平PPM评价
第三部分 元器件的应用可靠性（10课时）
1.电子元器件的可靠性选用
2.常见电过应力及干扰分析
3.基本防护方法
4.可靠性防护元件
5.重要电路与元器件的防护设计
6.系统级可靠性设计
7.印制电路版的可靠性设计
8.噪声-可靠性诊断技术
第四部分 元器件失效分析技术（10课时）
1.电子元器件失效分析概论
（1）电子元器件可靠性
（2）电子元器件失效分析
2.失效分析技术
（1）失效分析中的电测试技术
（2）显微形貌分析技术
（3）显微结构分析技术
（4）物理性能探测技术
（5）微区成分分析技术
（6）应力试验技术
（7）解剖制样技术
3.电子元器件失效分析方法和程序
（1）集成电路的主要结构及其生产工艺
（2）失效模式和机理
（3）失效分析方法和程序
（4）失效分析案例
4.电子元器件失效预防
（1）失效模式及影响分析方法
（2）故障树分析方法
（3）工程应用中的失效预防方法
第五部分 军用、宇航高可靠元器件的可靠性要求（6课时）
1.军用电子元器件质量可靠性控制典型案例
2.军用标准体系与要点讲解
3.宇航高可靠元器件的可靠性要求
教材与参考书
1.电子设计可靠性工程，庄奕琪编著，西安电子科技大学出版社，2014；
2.微电子器件可靠性，贾新章等，西安电子科技大学出版社；
3.电子元器件失效分析技术，恩云飞、来萍、李少平，电子工业出版社，2015；
4.统计过程控制与实践，贾新章，游海龙等，电子工业出版社，2017.11
赛思库
元器件使用可靠性智慧化解决方案引领者
