筛选的有效性：
根据以往产品筛选的试验数据积累，确定对剔除早期失效品筛选有效（在非破坏性应力作用下，淘汰率较高）的试验项目。对筛选淘汰率极低或根本不能把有缺陷产品筛选出来的试验项目应不列入筛选试验中。评价一个筛选方案是否有效，可以用筛选效果和筛选淘汰率等指标来衡量，而筛选的有效性又主要取决于筛选项目和应力的选取是否合理，要获得完全理想的筛选效果绝非易事。同样要获得筛选效果的数据也需要做大量的摸底试验，人们经过大量的实验积累了丰富的经验，现已对这些实践经验进行了总结，形成了标准。因此一般产品均根据其质量与可靠性保证等级所规定的筛选要求进行筛选，但当某种产品经筛选后经常出现质量一致性检验不合格时，则应考虑采用的筛选方案是否合适。
筛选试验应力的确定原则：
筛选试验的应力条件首要是非破坏性的，即通过筛选不能对产品的质量与可靠性产生影响，但试验应力也不能偏低，低了起不到筛选作用。原则上，确定筛选项目和应力条件应依据相应的标准。对于新研制的元器件产品，筛选试验应力的大小可通过摸底试验或类似产品的现场使用信息来确定。选择筛选应力的主要原则是：
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筛选应力类型应选择能激发早期失效的应力，根据不同产品所掌握的信息及失效机理来确定；
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筛选应力应以能激发出早期失效为宗旨，使产品各种隐患和缺陷尽快暴露出来；
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筛选应力不应使正常产品失效；
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筛选应力去掉后，不应使产品留下残余应力或影响产品的使用寿命；
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应力筛选试验持续时间应以能充分暴露早期失效为原则。
下表是集成电路常见的缺陷与主要筛选试验项目的相关性分析：
