芯片测试机-FTG系列支持存储器芯片,MCU芯片可靠性在线测试

FTG可编程测试系统
   本产品是一种功能测试系统( FTG),针对于 EEPROM/FLASH /MCU芯片测试中的功能验证和协议测试,提供了一种较通用的人
机界面和快捷方便的测试分析工具。
产品特性:

l  软件界面管理测试用例/底层协议,无需学习ARM/FPGA编程,可在线调试和升级;

l  测试脚本可下载到主机,实现脱机自动测试并保存测试结果;

l  软件界面自定义指令集, 自带SPI/IIC指令集;

l  单模块64个数字IO通道, 4个可调电源,支持256同测;

l  测试时钟可编程,IO速率最高20MHz;

l  电压可编程,0V~5.5V,精度+/-10mV;

l  内置定时器,可读取芯片擦写时间、指令响应时间等;

l  支持循环命令,支持连续下载测试脚本;

l  测试向量深度最大512G;

l  含512条错误存储空间;

l  独立模块设计,可支持多个模块组成系统并行测试;

l  USB接口与PC机通信

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