各位前辈，大家好，我时刚刚入测试行业的新人，在用Arrhenius(阿伦纽斯）模型做高温老化寿命使用时，不同器件的活化能Ea的取值怎么去取，如IC的类型有很多：稳压IC，数字IC，模拟IC，还有运放，DDR等，那么IC这类的Ea值怎么定？有没有什么可靠的依据？
请教电子产品做老化寿命实验Ea取值问题？
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hmn 正解。应付客户套标准，了解自己产品自己做试验计算ea
同问~
可以参考下SR332，或者向器件厂家沟通索要数据，还有就是自己通过做试验来拟合曲线算出Ea，这种比较费时费钱。