最近在写硕士毕业论文，做了一个设备的嵌入式控制系统，包括硬件的PCB和固件的编写。现在想在论文增加嵌入式系统软硬件的可靠性分析。
其中里面的硬件同时有国产和进口器件，在查元件失效概率的时候这些器件都可以同时用GJBZ299C-2006手册吗？还是可以GJBZ299C-2006和SR-332手册结合使用？
另外如网络PHY芯片和STM32 MCU等半导体微控制器貌似要使用内部晶体管的数量级别来确定其失效率，但是请问这个晶体管数量级别怎么来确定呢？去哪里可查到这种资料？
请问元件类似STM32的失效概率怎么查表？
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先感谢大佬们，我是刚入门小白，恳请帮忙解答一下