执行AEC-Q102 Failure Mechanism Based Stress Test Qualification for Discrete Optoelectronic Semiconductors in Automotive Applications
试验项目：
防静电等级测试
破坏性物理分析
尺寸测试
变频振动
机械冲击
可焊性测试
滴露
引线键合拉力
芯片剪切力
锡须
外目检
高温老炼寿命
高温反向偏置
温湿老炼寿命
温度循环
功率老炼温度循环
光学性能参数测试
间歇寿命
低温老炼寿命
服务内容
根据产品类型，交付阶段，认证类型提供详尽合理的认证方案.根据制定方案，提供全面认证测试服务,出具权威第三方测试报告。
特色增值服务
失效品失效分析，定位失效原因，明确失效机理，指导产品改进升级；根据产品失效机理，提供全面可靠性提升方案。
