电子产品老化测试

测试的目的和意义：

太阳辐射试验（氙灯暴露试验、碳弧灯暴露试验、卤素灯暴露试验）加热效应主要是由太阳辐射能中红外光谱部分产生的,主要引起产品短时高温和局部过热,造成一些对温度敏感的元器件失效,结构材料的机械破坏和绝缘材料的过热损坏等。

光化学效应主要是由太阳辐射能中紫外光谱部分产生的,紫外光谱提供的光能量足以激发材料分子使其健断裂、降解或交互,从而使材料老化变质。当太阳辐射与温度、湿度等气候因素综合作用时,它的破坏更为明显。易发现的损坏是变形、变色、失去光泽、粉化、开裂等表面损坏,同时,其内在的机械性能和电气性能也会随之降低,从而使材料的使用价值降低,甚至报废。

测试应用范围：

汽车零部件、电子电器、船舶、金属、合金材料、电镀、涂层

结果判定：

一般加热效应多采用循环方式：8小时连续照射，16小时保持黑暗，此24小时为一个循环。而光化学效应多采用连续照射，光化学效应试验用于研究长期暴露于日照对试验样品的影响。通常试验样品表面接收大量日光(以及热和湿气) 后才开始产生光化学效应。因此,该试验是一种加速试验,试验温度及辐射强度均采用热气候极值条件,每循环照射时间(20h 以上) 远远高于每天太阳照射的实际时间(约12h) 。若采用热效应循环来考核试品的光化学效应,可能要进行数月之久才能见效。因此,采用加速的方法,可以缩短再现长期暴晒累积效应的时间。

参考标准：

GJB 150.7-86 军用设备环境试验方法 太阳辐射试验

GB 4797.4-1989 电工电子产品自然环境条件 太阳辐射与温度

GB/T 2423.24-1995《电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Sa：模拟地面上的太阳辐射MIL-STD-810F《环境工程考虑与实验室试验》