可靠性试验的Burn-in具体是指temperature Operating life这个过程,还是对实验时间有要求?在很多实验描述中都出现了Burn-in, 如HTOL实验,ELFR实验等。
根据AEC-Q100-008文档的描述”Unsatisfactory results in this evaluation indicate that corrective action is required and the parts may
require processing changes, design changes, burn-in, more aggressive burn-in, or application of statistical part test limits“,感觉ELFR实验应该在Burn-in实验后进行。 ELFR实验不就是Burn-in的短时间么?为什么提ELFR应该在Burn-in实验之后进行实验. 这里的Burn-in是指什么?
如下表是ELFR百万分之一的失效率样品选取表格,该表格如何解读?另外请问ELFR的失效率如何计算?比如选择0失效,500FPM,样品数应该为1833,但实际失效了3颗,那么失效率是多少?另外第一列,Number of observed failures是指什么
谢谢各位大佬。 [s-70]
1833实验,实际失效3颗,那么PPM在2000~4000 PPM之间
[s-44]
同问