芯片流片后可靠性试验出现不良后续处理方法? 可靠性技术 可靠性试验 22年7月21日 编辑 social_1653645495716 取消关注 关注 私信 如果某芯片流片后在某项可靠性测试项目中有 n 颗不良,后续的工作要怎么安排,除了对不良品分析找原因,其他还需要做什么?可以具体说明吗 给TA打赏 共{{data.count}}人 人已打赏
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查找同批次和有嫌疑的芯片截留,同时分析原因,对工艺进行排查,找到受影响的批次隔离,评审对已出货的是否召回