可靠性试验设备-饱和加速寿命试验机(PCT)

可靠性试验设备-饱和加速寿命试验机(PCT)概要:

主要是测试半导体封装之湿气能力,待测产品被置于严苛之温度、湿度及压力下测试,湿气会沿着胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体,常见之故障

可靠性试验设备-饱和加速寿命试验机(PCT)

可靠性试验设备-饱和加速寿命试验机(PCT)特点:

1.内箱材料采用SUS304不锈钢;外箱材料采用双面镀锌钢板表面静电喷塑处理。外观采用简约实用设计风格,具有耐用性和抗磨损性等特点

2.跨平台控制系统可实现远程监控、数据上抛,异常推送,手机程序监管及兼容MES数据交互

3.智慧型饱和蒸汽温度值,人力控制装置于饱和蒸汽压力检知

4.白金温度传感(PT-1OO型)感知精确温度

4.棋置形圆形内箱结构设计,方便待测样品取置与蒸汽冲击隔离装置

5.全自动真空清洁程序,减低试品污染

 

可靠性试验设备-饱和加速寿命试验机(PCT)规格:

型号 J-PCT-40 J-PCT-60 J-PCT-80
容积/L 40 60 80
整体尺寸

(W*H*D) cm

900x1800x1120

 

以图纸为准

 

以图纸为准

 

温度范围 (RT+20)℃~250℃
温度控制范围 105~℃+150℃
湿度范围 100%RH
温度上升时间 100min (从常温到120C且温度到达85%RH的时间)
温度偏差 ≤±1.5℃(空载)
温度均匀度 ≤±1.5℃(空载)
压力波动均匀度 ±0.1kg
电源 AC220V或AC380V

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2023-9-29 15:40:55

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