压敏电阻的可靠性试验 可靠性技术 可靠性试验 10年8月4日 编辑 soccerlcj 取消关注 关注 私信 请教一下: 各位有没有对压敏电阻进行温度循环试验的经验? 我看了一下业界的做法,大部分都是进行温度冲击试验,我现在遇到这样一个问题,温度冲击试验没有问题,但是温度循环试验出问题了,电阻表面开裂。但是供应商不承认我们这个作法,所以想问问大家:压敏电阻需不需要进行温度循环试验?有没有什么标准或行业依据? 温度循环的条件是: -40~80摄氏度,dwell30min,20摄氏度/min,500cycle 另外,有没有比较成熟的温度循环加速试验的加速系数模型或公式? 谢谢啊。 给TA打赏 共{{data.count}}人 人已打赏
soccerlcjA lv2lv2 10年8月18日 哪位有这个标准,能不能发我邮箱,江湖救急。 标准编号:GB/T18802.331-2007 标准名称:低压电涌保护器件第331部分:金属氧化物压敏电阻(MOV)规范 英文名称:Componentsforlow-voltagesurgeprotectivedevices—Part331:Specificationformetaloxidevaristors(MOV) 邮箱[email]soccer1120@126.com[/email] 谢谢啊!
soccerlcjA lv2lv2 10年8月9日 [quote]为什么温度冲击做了后,做温度循环的失效不认账?这两个试验的应力因子是不同的,在产品的整个寿命剖面中肯… pif2216发表于2010-8-609:25[url=pid=80378&ptid=9619][/url][/quote] 因为在现在厂商认定的行业规范及行标中,只有温度冲击试验的要求,而没有温度循环试验的要求,所以从厂商的角度出发,就不肯认帐了。 其实在空调制造商的要求里面,压敏电阻的温度循环试验是必须要做的,这个也很容易理解。
闲情 lv4lv4 10年8月6日 [i=s]本帖最后由闲情于2010-8-612:57编辑[/i] 压敏电阻器在湿热试验中其性能可能会有变化,与其制作工艺有密切关系. 有篇资料你可以看一下. ZnO压敏电阻器在稳态湿热试验中的性能变化与分析 AnalysisofthePerformanceVariationofZnOVaristorsinSteadyStateDampHeatTest 通过对ZnO压敏电阻器试验结果的分析,探讨其在稳态湿热试验中引起性能变化的因素,提出要提高产品的耐湿性能,必须在包封料选择和瓷体制作工艺上加以改进. 作者:安福全 作者单位:安徽省电子产品监督检验所,安徽,合肥,230061 刊名:电子元件与材料ISTICPKU 英文刊名:ELECTRONICCOMPONENTS&MATERIALS 年,卷(期):200322(7) 分类号:TN379 关键词:压敏电阻器湿热试验性能变化机理分析稳定性可靠性 机标分类号:TU4TM4 机标关键词:压敏电阻器稳态湿热试验性能变化SteadyState制作工艺试验结果包封料选择耐湿瓷体产品 基金项目: DOI:参考文献(2条) 王建文.邓一鸣.杨明ZnO压敏电阻器耐潮湿性能影响因素的研究1999 平帅.马睿ZnO压敏电阻器吸潮机理的研究[会议论文]1999
zl-keith lv3lv3 10年8月6日 [quote]现在我这款压敏电阻就是环氧树脂封装的。 请教一下,你这个 TemperatureCycle-55°C,25°C,125°C … soccerlcj发表于2010-8-600:07[url=pid=80373&ptid=9619][/url][/quote] 应该是行业的标准,具体出自哪里,我也不是很清楚, 可以参考一下GB/T10193 GB/T18802.331-2007
soccerlcjA lv2lv2 10年8月6日 现在我这款压敏电阻就是环氧树脂封装的。 请教一下,你这个 TemperatureCycle-55°C,25°C,125°C 15min,5min,15min 来源是哪里啊?
zl-keith lv3lv3 10年8月5日 对于正规厂家做的压敏电阻这个条件肯定是没有问题的, 如果是用环氧树脂封装的话在这样条件一般不会出现表面开裂的情况 主要的测试项目如下:HighTemperatureOperatingLife125°C,1000hrs, HighTemperatureStorage150°C,1000hrs LowTemperatureStorage-55°C,1000hrs Humidity85°C/85RH,1000hrs BiasHumidity85°C/85RH,1000hrs, TemperatureCycle-55°C,25°C,125°C 15min,5min,15min PeakPulse(8/20uS) Energy(10/1000uS)
[b]回复[url=pid=80947&ptid=9619]11#[/url][i]soccerlcj[/i][/b]
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哪位有这个标准,能不能发我邮箱,江湖救急。
标准编号:GB/T18802.331-2007
标准名称:低压电涌保护器件第331部分:金属氧化物压敏电阻(MOV)规范
英文名称:Componentsforlow-voltagesurgeprotectivedevices—Part331:Specificationformetaloxidevaristors(MOV)
邮箱[email]soccer1120@126.com[/email]
谢谢啊!
谢谢闲情大哥的指引,这个应该能帮我不少。
[quote]为什么温度冲击做了后,做温度循环的失效不认账?这两个试验的应力因子是不同的,在产品的整个寿命剖面中肯…
pif2216发表于2010-8-609:25[url=pid=80378&ptid=9619][/url][/quote]
因为在现在厂商认定的行业规范及行标中,只有温度冲击试验的要求,而没有温度循环试验的要求,所以从厂商的角度出发,就不肯认帐了。
其实在空调制造商的要求里面,压敏电阻的温度循环试验是必须要做的,这个也很容易理解。
[i=s]本帖最后由闲情于2010-8-612:57编辑[/i]
压敏电阻器在湿热试验中其性能可能会有变化,与其制作工艺有密切关系.
有篇资料你可以看一下.
ZnO压敏电阻器在稳态湿热试验中的性能变化与分析
AnalysisofthePerformanceVariationofZnOVaristorsinSteadyStateDampHeatTest
通过对ZnO压敏电阻器试验结果的分析,探讨其在稳态湿热试验中引起性能变化的因素,提出要提高产品的耐湿性能,必须在包封料选择和瓷体制作工艺上加以改进.
作者:安福全
作者单位:安徽省电子产品监督检验所,安徽,合肥,230061
刊名:电子元件与材料ISTICPKU
英文刊名:ELECTRONICCOMPONENTS&MATERIALS
年,卷(期):200322(7)
分类号:TN379
关键词:压敏电阻器湿热试验性能变化机理分析稳定性可靠性
机标分类号:TU4TM4
机标关键词:压敏电阻器稳态湿热试验性能变化SteadyState制作工艺试验结果包封料选择耐湿瓷体产品
基金项目:
DOI:参考文献(2条)
王建文.邓一鸣.杨明ZnO压敏电阻器耐潮湿性能影响因素的研究1999
平帅.马睿ZnO压敏电阻器吸潮机理的研究[会议论文]1999
[quote]现在我这款压敏电阻就是环氧树脂封装的。
请教一下,你这个
TemperatureCycle-55°C,25°C,125°C
…
soccerlcj发表于2010-8-600:07[url=pid=80373&ptid=9619][/url][/quote]
应该是行业的标准,具体出自哪里,我也不是很清楚,
可以参考一下GB/T10193
GB/T18802.331-2007
为什么温度冲击做了后,做温度循环的失效不认账?这两个试验的应力因子是不同的,在产品的整个寿命剖面中肯定会遇到,所以这两个试验是必不可少的
为什么温度冲击做了后,做温度循环的失效不认账?这两个试验的应力因子是不同的,在产品的整个寿命剖面中肯定会遇到,所以这两个试验是必不可少的
现在我这款压敏电阻就是环氧树脂封装的。
请教一下,你这个
TemperatureCycle-55°C,25°C,125°C
15min,5min,15min
来源是哪里啊?
请教楼上:
PeakPulse(8/20uS)
Energy(10/1000uS)
电流浪涌的试验次数是多少?
对于正规厂家做的压敏电阻这个条件肯定是没有问题的,
如果是用环氧树脂封装的话在这样条件一般不会出现表面开裂的情况
主要的测试项目如下:HighTemperatureOperatingLife125°C,1000hrs,
HighTemperatureStorage150°C,1000hrs
LowTemperatureStorage-55°C,1000hrs
Humidity85°C/85RH,1000hrs
BiasHumidity85°C/85RH,1000hrs,
TemperatureCycle-55°C,25°C,125°C
15min,5min,15min
PeakPulse(8/20uS)
Energy(10/1000uS)