陶瓷电容试验 可靠性技术 可靠性试验 10年9月11日 编辑 jiashaoxiong 取消关注 关注 私信 对于陶瓷电容器,出厂后的商品,要经过什么试验,在不改变其失效机理的前提下,让其性能退化(即,寿命减小,但不让其失效),这个有什么标准吗? 给TA打赏 共{{data.count}}人 人已打赏
giant110 lv5lv5 10年9月12日 [quote]额,不是太明白楼主所说的性能下降是指什么。瓷片电容最常见的失效就是开裂,由于各种各样原因造成开裂。但… 俱兴发表于2010-9-1215:50[url=pid=82205&ptid=9844][/url][/quote] 说的太好了学习了
jiashaoxiongA lv2lv2 10年9月12日 非常感谢指导,我这里所说的性能下降,简单说就是经过一些处理让它的寿命有明显下降,其实这个我并不要求它具体哪方面有问题,我们是要尝试寻找一种方法把寿命、或耐压有明显区别的两类样品分开来。
俱兴 lv5lv5 10年9月12日 额,不是太明白楼主所说的性能下降是指什么。瓷片电容最常见的失效就是开裂,由于各种各样原因造成开裂。但是这个应该不是楼主所说的性能下降。其他的,比如耐压、ESR等等的,在正常条件下使用都不太会有较大退化。容值衰减我说过了,是跟时间有关的,这是瓷片电容自身的特性决定的,这种现象一般被称作老化,但是仅限二类和三类瓷介电容。一类瓷介不存在这个问题。你做寿命试验应该也不能模拟出来。 关于对瓷片电容评估的问题,我知道的物料引入,一般就是按照规格书测试一些偏差(ppm)、容值、ESR、温度特性等等,但是这些测试要在出厂1000小时内完成。
俱兴 lv5lv5 10年9月12日 木有听说过有这种实验。请问楼主实验目的是什么,想针对何种失效机理? 与铝电解电容不同,对于瓷片电容来说寿命并不是它的关键参数。正常使用的情况下,介质类型、温度系数、直流偏执电压、容值的精度要求等才是需要关注的。瓷片电容自出厂后容值就会一直下降,直到经历了居里温度才会容值恢复,然后开始另一个循环的衰减。不过这个不是失效,而是它自身材料特性决定的。不知道楼主是不是关心这个问题。
主要的失效机理是介电击穿,电解电容的失效有明显的退化过程,陶瓷电容不是很清楚,期待继续跟帖讨论
[quote]额,不是太明白楼主所说的性能下降是指什么。瓷片电容最常见的失效就是开裂,由于各种各样原因造成开裂。但…
俱兴发表于2010-9-1215:50[url=pid=82205&ptid=9844][/url][/quote]
说的太好了学习了
没有研究过,学习了!我们公司对陶瓷电容主要检测容值精度,从维修报表来看,失效的很少,失效主要表现为断裂和裂纹。
非常感谢指导,我这里所说的性能下降,简单说就是经过一些处理让它的寿命有明显下降,其实这个我并不要求它具体哪方面有问题,我们是要尝试寻找一种方法把寿命、或耐压有明显区别的两类样品分开来。
额,不是太明白楼主所说的性能下降是指什么。瓷片电容最常见的失效就是开裂,由于各种各样原因造成开裂。但是这个应该不是楼主所说的性能下降。其他的,比如耐压、ESR等等的,在正常条件下使用都不太会有较大退化。容值衰减我说过了,是跟时间有关的,这是瓷片电容自身的特性决定的,这种现象一般被称作老化,但是仅限二类和三类瓷介电容。一类瓷介不存在这个问题。你做寿命试验应该也不能模拟出来。
关于对瓷片电容评估的问题,我知道的物料引入,一般就是按照规格书测试一些偏差(ppm)、容值、ESR、温度特性等等,但是这些测试要在出厂1000小时内完成。
试验目的就是要一些性能下降的样品,来和好的样品做对比,通过其它方法来区分好的和差的。现在没有这样的样品,所以想自己通过什么方法做一批出来。
木有听说过有这种实验。请问楼主实验目的是什么,想针对何种失效机理?
与铝电解电容不同,对于瓷片电容来说寿命并不是它的关键参数。正常使用的情况下,介质类型、温度系数、直流偏执电压、容值的精度要求等才是需要关注的。瓷片电容自出厂后容值就会一直下降,直到经历了居里温度才会容值恢复,然后开始另一个循环的衰减。不过这个不是失效,而是它自身材料特性决定的。不知道楼主是不是关心这个问题。
谢谢指导!这个不需要环境试验吗?
那就做寿命试验就可以了!