求助:可焊性事宜

我公司现在在做SiP封装系列产品,目前的LGA产品进行可靠性验证时,一直出现易焊性不过的情况。

目前我司的实验室进行易焊性测试的时候,用的是一般的槽焊法,但是产品的上锡效果不好。

我司目前LGA产品的管脚均为电镀金,金层厚度最小值为0.5。

这种管脚不易上锡的情况,是否跟管脚的金层厚度有关,还是跟试验方法有关?

JEDEC标准中,易焊性有2种方法,一种槽焊法,一种为SMD的方式

目前LGA的产品是否不适用槽焊法?

BGA产品是否也需要进行易焊性,这又需要以什么样的方法进行?

各位高手,请多多指教。

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可靠性技术可靠性试验

dust test

2010-9-28 13:22:16

可靠性技术可靠性试验

那位大侠有PC机的老化测试资料

2010-9-30 15:22:53

6 条回复 A文章作者 M管理员
  1. ZICO863

    我们的一款产品出现冷焊问题,也一直在头痛。
    请高手指点从哪些方面查找原因与对策。

  2. 闲情

    BGA的焊脚本来就是焊锡球,其本身应该没有可焊性问题.
    焊接的好坏,和锡膏,焊接工艺条件关系较大.

  3. 闲情

    [i=s]本帖最后由闲情于2010-9-2915:30编辑[/i]

    管脚一般是先镀镍再镀金,金层和镍层还有个扩散的问题~~~~~~~~~~
    镍的可焊性是非常差的. 
    镍金合金不太了解,估计可焊性也不会太好的.

  4. 闲情

    金层太薄,存放时间长了引脚可焊性不良,比较常见.

  5. 闲情

    金层0.5微米的话是很薄的.完整的镀金层要3个微米以上.

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